[发明专利]基于介质超表面的偏振非依赖宽带消色差器件在审
申请号: | 202110170326.9 | 申请日: | 2021-02-08 |
公开(公告)号: | CN112946793A | 公开(公告)日: | 2021-06-11 |
发明(设计)人: | 郭忠义;郭凯;康乾龙;周红平;陈蕾 | 申请(专利权)人: | 合肥工业大学 |
主分类号: | G02B5/00 | 分类号: | G02B5/00 |
代理公司: | 六安市新图匠心专利代理事务所(普通合伙) 34139 | 代理人: | 朱小杰 |
地址: | 230009 *** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 介质 表面 偏振 依赖 宽带 色差 器件 | ||
1.一种基于介质超表面的偏振非依赖宽带消色差器件,包括上层介质单圆柱,环形柱、同心柱和下层基底,其特征在于:通过柱形结构和传播相位相结合的方法分别来控制入射线偏振光的波前和消除色差,并合理裁剪尺寸构建超表面阵列,通过对探测面的线偏振,即线偏振能量的提取和处理,分析器件的消色差特性。
2.根据权利要求1所述一种基于介质超表面的偏振非依赖宽带消色差器件,特征在于:所述设计器件在入射中心波长4.2μm时,上层高折射率介质硅厚度为4.5μm,晶格常数为1.8μm,基底氟化钙厚度为3μm,通过对探测面的线偏振能量的提取和处理,分析器件的聚焦性能。
3.根据权利要求1所述一种基于介质超表面的偏振非依赖宽带消色差器件,特征在于:所述设计器件在入射除中心波长外的其他波长时,器件实现聚焦的焦平面保持不变,通过对探测面的线偏振能量的提取和处理,分析器件的消色差特性。
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