[发明专利]一种自动测量装置及测量方法

权利要求书

1.一种自动测量装置，其特征在于，包括：

机体；

托盘，设置在机体上，在所述托盘上设置有用于对工件限位的限位组件和承托支撑所述工件的支撑组件；

第一检测元件，设置在所述机体上，用于检测托盘上是否有工件；

升降机构，设置在所述机体上，用于驱动所述托盘上下移动；

第二检测元件，设置在所述机体上，位于所述第一检测元件下方，用于检测工件是否移动到测量位；

测量装置，设置在所述机体上，包括有：

安装座；

万向转动部件，安装在所述安装座内且能够相对所述安装座万向转动；

测量塞规，与所述万向转动部件连接，能够将其测量的横向位移变化量转换为纵向位移变化量；

竖向位移检测元件，安装在所述万向转动部件上，用于检测所述测量塞规输出的纵向位移变化量；

调心架，设置在所述安装座上方，套设在所述测量塞规上；

弹性组件，装配在所述调心架内，且抵靠在所述测量塞规的外周壁上，能够在测量塞规受力摆动时被压缩变形，在塞规受力消失时施加反向弹性力使塞规复位；

主控器，设置在所述机体上，与所述升降机构、所述第一检测元件、第二检测元件和竖向位移检测元件通讯连接;

显示控制屏，用于实现显示，与所述主控器通讯连接。

2.根据权利要求1所述的自动测量装置，其特征在于，所述限位组件包括有：

第一限位凸起，设置多个，围设在工件外侧，用于对工件实现第一方向的限位；

第二限位凸起，插入到工件的孔内，抵靠在孔侧壁上，用于实现对工件第二方向的限位。

3.根据权利要求2所述的自动测量装置，其特征在于，所述支撑组件包括有：

第一支撑台，设置在所述托盘上，用于对工件的孔端面进行承载支撑；

第二承载限位台，设置在所述托盘上，用于对工件的孔端面限位支撑。

4.根据权利要求1所述的自动测量装置，其特征在于，

所述万向转动部件为球头轴承，所述球头轴承包括有球头体和与球头体连接的芯轴，所述测量塞规插装在所述芯轴内，所述竖向位移检测元件插装在所述芯轴内且与所述测量塞规接触。

5.根据权利要求1所述的自动测量装置，其特征在于，还包括有用于对测量塞规进行校准的环规。

6.根据权利要求1所述的自动测量装置，其特征在于，

所述弹性组件设置有2组，每组均包括有2个弹性部件，每组中的 2个弹性部件均对称布置在测量塞规的两侧，其中一组沿第一方向布置，另一组沿第二方向布置，所述第一方向和所述第二方向垂直。

7.根据权利要求4所述的自动测量装置，其特征在于，

所述安装座包括有保持架和隔圈，所述保持架安装在所述隔圈上，所述球头轴承转动安装在所述保持架内，所述隔圈通过连接法兰和所述调心架固定连接。

8.根据权利要求1所述的自动测量装置，其特征在于，还包括有连接座，所述托盘设置有2个，对称设置在所述连接座的两端，每一托盘上均设置有所述限位组件和支撑组件，所述升降机构设置在所述连接座的底部。

9.根据权利要求1所述的自动测量装置，其特征在于，

还包括有：支撑部件，设置有多个，多个所述支撑部件高度不同，位于测量装置的周圈，用于支撑工件。

10.一种用于权利要求1-9任一项所述的自动测量装置的测量方法，其特征在于，包括如下步骤：

预存环规测量值：测量获取环规孔径值M1,将环规套设到测量塞规上，通过竖向位移检测元件检测出竖向位移变形量T1，将M1和T1值存储到所述主控器内；

测量工件孔径：通过第一检测元件检测工件是否放置到位，并在检测到工件放置到位时发送信号给主控器，主控器控制升降机构动作，带动托盘、工件下移，使得工件的待测孔插入到测量塞规上压缩测量塞规，并在接收到第二检测元件发出的工件到达测量位的信号后采集竖向位移检测元件检测的竖向位移变形量T2,通过预存储在其内部的M1、T1值,根据公式M2=M1+T2-T1获取到工件的待测孔径M2的值。