[发明专利]具有同轴射束偏转元件的勘测装置有效
申请号: | 202110175898.6 | 申请日: | 2021-02-09 |
公开(公告)号: | CN113340279B | 公开(公告)日: | 2023-06-27 |
发明(设计)人: | J·辛德林 | 申请(专利权)人: | 赫克斯冈技术中心 |
主分类号: | G01C15/00 | 分类号: | G01C15/00;G01S7/481;G01S17/08 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 王万影;王小东 |
地址: | 瑞士赫*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 具有 同轴 偏转 元件 勘测 装置 | ||
1.一种勘测装置(1),所述勘测装置(1)具有:
·辐射源(7),所述辐射源(7)用于生成测距射束(B、B1、B2),
·基座(20),所述基座(20)限定竖直轴线(v),
·支撑件(3),所述支撑件(3)限定倾斜轴线(t),所述支撑件(3)被布置在所述基座(20)上,并且能够绕作为第一旋转轴线(Rv)的所述竖直轴线(v)相对于所述基座(20)旋转,
·瞄准单元(2),所述瞄准单元(2)由所述支撑件(3)承载,所述瞄准单元(2)被布置成能够绕作为第二旋转轴线(rt)的所述倾斜轴线(t)相对于所述支撑件(3)旋转,以沿发射方向将所述测距射束(B、B1、B2)发射到自由空间中,所述发射方向关于所述竖直轴线(v)和所述倾斜轴线(t)是可变的,
·第一角度编码器,所述第一角度编码器用于测量所述支撑件(3)关于所述竖直轴线(v)的相应相对位置,以及
·第二角度编码器(17),所述第二角度编码器(17)用于测量所述瞄准单元(2)关于所述倾斜轴线(t)的相应相对位置,
其特征在于,
·射束偏转元件(6),所述射束偏转元件(6)位于所述瞄准单元(2)中,并且能够绕作为第三旋转轴线(Rd)的偏转轴线(d)旋转,所述偏转轴线(d)与所述倾斜轴线(t)一致,并且所述射束偏转元件(6)按照使得所述发射方向能够关于所述偏转轴线(d)改变的方式被布置在测距射束路径中,以及
·第三角度编码器(13),所述第三角度编码器(13)用于测量所述射束偏转元件(6)关于所述偏转轴线(d)的相应相对位置,
其中,所述瞄准单元(2)包括小角孔(4)和至少一个广角孔(5a),所述小角孔(4)和所述至少一个广角孔(5a)在关于所述倾斜轴线(t)或者所述偏转轴线(d)的角位置和角开度(FoV)方面不同,所述射束偏转元件(6)能够按照使得所述测距射束(B、B1、B2)能发射通过所述小角孔(4)和所述至少一个广角孔(5a)的方式旋转。
2.根据权利要求1所述的勘测装置(1),
其特征在于,
·单点测量功能,所述单点测量功能基于距对象点的测量距离以及所述支撑件(3)关于所述竖直轴线(v)的相应相对位置和所述瞄准单元(2)关于所述倾斜轴线(t)的相应相对位置来对所述对象点进行协调测量,以及
·扫描功能,所述扫描功能基于测距射束(B、B1、B2)借助于所述射束偏转元件(6)的旋转而在对象表面上进行的连续扫掠来对所述对象表面进行扫描,同时连续测量所述射束偏转元件(6)关于所述偏转轴线(d)的距离以及相应相对位置。
3.根据权利要求1或2所述的勘测装置(1),
其特征在于,
为了在竖直平面中改变所述发射方向,所述倾斜轴线(t)用作慢速旋转轴线,而所述偏转轴线(d)用作快速旋转轴线。
4.根据权利要求1或2所述的勘测装置(1),
其特征在于,
所述倾斜轴线(t)是精度优于2的轴线,并且所述偏转轴线(d)是精度为2至7的轴线。
5.根据权利要求1或2所述的勘测装置(1),
其特征在于,
所述至少一个广角孔(5a)
·覆盖至少90°的视场,和/或
·包括彼此成角度布置的至少两个平坦窗口(26),或者包括一个圆形窗口。
6.根据权利要求5所述的勘测装置(1),
其特征在于,
所述瞄准单元(2)包括第二广角孔(5b),所述第二广角孔(5b)关于所述偏转轴线(d)与所述至少一个广角孔(5a)相对地定位。
7.根据权利要求1或2所述的勘测装置(1),
其特征在于,
按照使得所述瞄准单元(2)能够绕所述倾斜轴线(t)旋转至少360°的方式来确定所述瞄准单元(2)的尺寸并布置所述瞄准单元(2)。
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