[发明专利]紫外-近红外宽波段微区光致发光光谱测试装置有效
申请号: | 202110177049.4 | 申请日: | 2021-02-07 |
公开(公告)号: | CN113008849B | 公开(公告)日: | 2022-08-02 |
发明(设计)人: | 李沫;陈飞良;张健 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64 |
代理公司: | 成都虹盛汇泉专利代理有限公司 51268 | 代理人: | 王伟 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 紫外 红外 波段 光致发光 光谱 测试 装置 | ||
1.紫外-近红外宽波段微区光致发光光谱测试装置,其特征在于,包括激发光源系统和光谱测量及照明观察系统;
所述激发光源系统包括高重频超快激光源(1)、激光脉冲选择器(2)、第一分光器(3)和谐波发生器(4);
高重频超快激光源(1)产生的原始激发光进入激光脉冲选择器(2)进行选择,然后通过第一分光器(3)进行分束,分束后一部分光进入谐波发生器(4)中,另一部分光用作起始时间参考信号输入光电探测器(17)中;
所述光谱测量及照明观察系统包括显微物镜(8)、恒温样品池(9)、六轴六足精密电动位移台(10)、透镜(12)、光栅光谱仪(13)、CCD相机(14)、光电倍增管PMT(15)、电脑控制端(16)、光电探测器(17)、可拆卸的反射镜(18)、分光棱镜(19)、观测样品表面的成像相机(20)、光纤耦合的LED光源(21);
恒温样品池(9)放置在六轴六足精密电动位移台(10)上,显微物镜(8)设置在恒温样品池(9)上方,显微物镜(8)上方依次设有第三分光器(6)和第二分光器(5);
第三分光器(6)用于将谐波发生器(4)射出的激发光引导到显微物镜中照射到样品上,激发样品产生荧光;第二分光器(5)用于将LED光源照明光引导到显微镜中照射到样品上,对样品进行观察,同时将激发光与样品相互作用产生的荧光引导回测试光路中;
第二分光器(5)的一侧设有反射镜(18),反射镜(18)的上方设有分光棱镜(19),分光棱镜(19)的两侧分别设有观测样品表面的成像相机(20)和光纤耦合的LED光源(21);反射镜(18)的另一侧依次设有透镜(12)、光栅光谱仪(13)和光电倍增管PMT(15),光栅光谱仪(13)的上方设有CCD相机(14);电脑控制端(16)分别与光电倍增管PMT(15)和光电探测器(17)相连。
2.根据权利要求1所述的紫外-近红外宽波段微区光致发光光谱测试装置,其特征在于,所述光谱测量及照明观察系统还包括三维调节器(7),三维调节器(7)用于固定显微物镜(8)并进行XYZ三维位置手动调节。
3.根据权利要求1所述的紫外-近红外宽波段微区光致发光光谱测试装置,其特征在于,所述光谱测量及照明观察系统还包括六轴六足精密电动位移台的驱动及控制器(11),用于对六轴六足精密电动位移台(10)进行精密控制,六轴六足精密电动位移台的驱动及控制器(11)与电脑控制端(16)相连。
4.根据权利要求1所述的紫外-近红外宽波段微区光致发光光谱测试装置,其特征在于,所述电脑控制端(16)为含时间相关单光子计数卡的电脑,能够进行荧光寿命测试及单光子计数器输出信号事件的相对时间精确测量。
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