[发明专利]芯片测试电路及方法

说明书

提供了一种芯片测试电路和方法。该芯片测试电路包括：模式判断模块，被配置为基于芯片的特定端口处的端口信号判断是否使芯片进入特定测试模式，并基于判断结果生成用于使能芯片进入特定测试模式或正常工作模式的模式使能信号；模式锁存模块，被配置为通过对模式使能信号进行采样和锁存生成模式锁存信号，以基于模式锁存信号控制芯片进入并在下电前一直处于特定测试模式或正常工作模式。这里，由于利用模式锁存信号控制芯片进入特定测试模式或正常工作模式后在下电前一直处于特定测试模式或正常工作模式，可以避免芯片在处于正常工作模式时误进入特定测试模式导致的芯片工作异常甚至炸机。

技术领域

本发明涉及电路领域，更具体地涉及一种芯片测试电路及方法。

背景技术

由于工艺和封装等原因，经常会出现芯片内的各种特性参数发生偏移的情况。因此，需要通过测试对芯片内发生偏移的参数进入调试或筛除，以保证芯片能够达到产品规格要求。芯片内的绝大多数参数是无法直接测量的，需要使芯片依次进入一种或多种测试模式并通过芯片的某个端口将芯片内的一个或多个参数引出到芯片外部，来实现对这些参数进行测量的目的。

通常，要求芯片内的测试电路(下面称为芯片测试电路)不能影响芯片的正常应用，且不能对芯片内的其他电路的性能产生影响。芯片测试电路可以基于芯片的特定端口处的端口信号判断是否使芯片进入测试模式，并在芯片进入测试模式后通过芯片的另一端口将芯片内的参数引出到芯片外部供测量。对于传统的芯片测试电路而言，其输入和输出端口分别是芯片的两个不同端口，并且要求其输入端口为芯片的高阻输出端口。当芯片处于正常工作模式时，传统的芯片测试电路的输入端口可能会受到干扰，使芯片误进入测试模式，从而导致芯片工作异常甚至出现炸机现象。另一方面，对于端口比较少的芯片，例如，只有电源、地、和一个输出端口的芯片，传统的芯片测试电路无法实现测试功能。同时，端口比较少的芯片通常只有一个端口用作芯片测试电路的输出端口，此时也需要使芯片依次进入多种测试模式才能将芯片内的多个参数引出到芯片外部供测量。

发明内容

鉴于以上所述的一个或多个问题，提出了根据本发明实施例的芯片测试电路和方法、及包括该芯片测试电路的芯片。

根据本发明实施例的芯片测试电路，包括：模式判断模块，被配置为基于芯片的特定端口处的端口信号判断是否使芯片进入特定测试模式，并基于判断结果生成用于使能芯片进入特定测试模式或正常工作模式的模式使能信号；模式锁存模块，被配置为通过对模式使能信号进行采样和锁存生成模式锁存信号，以基于模式锁存信号控制芯片进入并在下电前一直处于特定测试模式或正常工作模式。

根据本发明实施例的芯片测试方法，包括：基于芯片的特定端口处的端口信号判断是否使芯片进入特定测试模式，并基于判断结果生成用于使能芯片进入特定测试模式或正常工作模式的模式使能信号；以及通过对模式使能信号进行采样和锁存生成模式锁存信号，以基于模式锁存信号控制芯片进入并在下电前一直处于特定测试模式或正常工作模式。

根据本发明实施例的芯片测试电路和方法能够准确判断是否使芯片进入特定测试模式，并且能够基于判断结果使芯片进入特定测试模式或正常工作模式后在下电前一直处于特定测试模式或正常工作模式，从而可以避免芯片在处于正常工作模式时误进入特定测试模式导致的芯片工作异常甚至炸机。

根据本发明实施例的芯片，包括一个或多个上述芯片测试电路，其中，该一个或多个芯片测试电路分别对应不同的测试模式，并且该芯片在同一时刻仅在该一个或多个芯片测试电路中的一个芯片测试电路的控制下进入并一直处于该芯片测试电路所对应的测试模式或正常工作模式。

根据本发明实施例的芯片可以在一个或多个上述芯片测试电路中的任意一个芯片测试电路的控制下进入该芯片测试电路所对应的测试模式或正常工作模式并且在下电前一直处于该测试模式或正常工作模式，从而可以避免芯片在处于正常工作模式时误进入该测试模式或其他测试模式导致的芯片工作异常甚至炸机。

附图说明