[发明专利]一种干扰及非均匀下的部分自适应信号检测方法与系统

说明书

本发明涉及信号检测技术领域，尤其涉及一种干扰及非均匀下的部分自适应信号检测方法与系统，包括：步骤1：根据干扰信息构造干扰矩阵；步骤2：利用所述干扰矩阵构造干扰抑制矩阵；步骤3：利用所述干扰抑制矩阵去除待检测数据、信号矩阵和训练样本中的干扰成分；步骤4：利用去除干扰分量后的训练样本构造采样协方差矩阵；步骤5：利用所述采样协方差矩阵构造白化矩阵；步骤6：利用所述白化矩阵对去除干扰分量后的待检测数据和除去干扰分量后的信号矩阵进行白化；步骤7：利用所述白化后的数据构造检测统计量；步骤8：根据虚警概率及系统参数确定检测门限；步骤9：比较所述检测统计量与所述检测门限的大小，并判决目标是否存在。

技术领域

本发明涉及信号检测技术领域，尤其涉及一种干扰及非均匀下的部分自适应信号检测方法与系统。

背景技术

干扰及杂波的非均匀特性严重制约了雷达探测效能的发挥，干扰信号一般远远强于雷达接收到的微弱目标信号，极大削弱了雷达的目标探测性能，此外，雷达的工作环境复杂多变，存在大量无序的杂波信号，它们不仅覆盖范围广，而且强度大，并且在距离维呈现出非均匀特性，待检测单元的杂波统计特性往往与训练样本中的杂波统计特性不同，进一步恶化了雷达目标探测的工作环境。

发明内容

本发明要解决的技术问题是克服上述技术缺陷，提供一种干扰及非均匀下的部分自适应信号检测方法与系统。

为解决上述技术问题，本发明提出一种干扰及非均匀下的部分自适应信号检测方法，包括以下步骤，

步骤1：根据干扰信息构造干扰矩阵；

步骤2：利用所述干扰矩阵构造干扰抑制矩阵；

步骤3：利用所述干扰抑制矩阵去除待检测数据、信号矩阵和训练样本中的干扰成分；

步骤4：利用去除干扰分量后的训练样本构造采样协方差矩阵；

步骤5：利用所述采样协方差矩阵构造白化矩阵；

步骤6：利用所述白化矩阵对去除干扰分量后的待检测数据和除去干扰分量后的信号矩阵进行白化；

步骤7：利用所述白化后的数据构造检测统计量；

步骤8：根据虚警概率及系统参数确定检测门限；

步骤9：比较所述检测统计量与所述检测门限的大小，并判决目标是否存在。

进一步地，所述步骤1中根据干扰信息构造干扰抑制矩阵分为两种情况，即：多个方位确定的干扰及单个方位不确定的干扰；对于多个干扰的情况，干扰矩阵具有形式

J＝[j(θ₁),j(θ₂),…,j(θ_q)] (1)

公式(1)中

公式(2)为m第个干扰的导向矢量，d为天线阵元间距，λ为雷达发射信号波长，θ_m为第m个干扰的方位角，m＝1,2,…,q，上标[·]^T表示转置，j表示虚数；对于一个干扰的情况，若q为奇数，则干扰矩阵具有形式

J＝{j[θ-(q-1)Δθ/2],j[θ-(q-2)Δθ/2],…,j(θ),…,j[θ-(q-1)Δθ/2]} (3)

若q为偶数，则干扰矩阵具有形式

J＝{j[θ-qΔθ/2],j[θ-(q-1)Δθ/2],…,j(θ),…,j[θ-(q-2)Δθ/2]} (4)

公式(3)、公式(4)中，Δθ为很小的角度偏置量。

进一步地，所述步骤2中利用所述干扰矩阵构造的干扰抑制矩阵