[发明专利]一种针对半导体存储器老化测试的离线调试方法及装置

说明书

本申请涉及一种针对半导体存储器老化测试的离线调试方法及装置，涉及半导体存储器测试技术领域，该方法包括以下步骤：建立用于替代FPGA的所有寄存器的自定义存储空间，在FPGA的所有寄存器地址到自定义存储空间的存储地址之间建立映射；当需要访问FPGA的Start寄存器时，调用ALPG模块从FPGA的PC寄存器读取的存储地址开始模拟运行Pattern，将运行中断或结束的状态写入FPGA的Status寄存器；循环查询Status寄存器的值，根据查询结果选择继续运行Pattern或执行后续测试项目。本申请基于文件映射方式对FPGA进行模拟化处理，降低硬件设备的成本，提高测试工作的通用性和便利性。

技术领域

本申请涉及半导体存储器测试技术领域，具体涉及一种针对半导体存储器老化测试的离线调试方法及其制作方法。

背景技术

半导体存储器(Semi-conductor Memory)测试在芯片测试领域中专业程度较高，需要专用的硬件以及软件开发环境，因此在程序开发和调试需要机台，而机台除了操作系统外还包含专用FPGA，并配备专门的软件编译环境以及待测的存储芯片。

但实际实施时，很多情况下的程序开发调试或者学习中，凑齐所有的硬件条件需要大量的投入，成本较高。故而，急需一种较为便利且成本较低的半导体存储器老化测试技术，以满足当前的测试需求。

发明内容

本申请提供一种针对半导体存储器老化测试的离线调试方法及其制作方法，基于文件映射方式对FPGA进行模拟化处理，在一定程度上摆脱了硬件环境以及软件开发环境的限制，降低了硬件设备的成本，提高了测试工作的通用性和便利性。

第一方面，本申请提供了一种针对半导体存储器老化测试的离线调试方法，所述方法包括以下步骤：

建立用于替代FPGA的所有寄存器的自定义存储空间，并在FPGA的所有寄存器地址到所述自定义存储空间的存储地址之间建立映射；

监控经过总线发送的针对半导体存储器的读写寄存器命令，当需要访问FPGA的Start寄存器时，调用预设的ALPG模块通过文件映射的方式访问FPGA的PC寄存器对应的所述自定义存储空间的存储地址开始模拟运行Pattern，并将运行中断或结束的状态对应的所述自定义存储空间的存储地址写入FPGA的Status寄存器；

循环查询Status寄存器对应的所述自定义存储空间的存储地址存储的值，根据查询结果选择继续运行Pattern或执行后续测试项目；其中，

所述FPGA为程序开发和调试需要的机台所包含的专用FPGA；

所述Pattern为自动测试设备使用的包含管脚输入和输出波形和时序信息的文件；

所述模拟运行Pattern中，包括以下步骤：

控制所述ALPG模块从Pattern的起始地址起始，逐行执行代码；

所述ALPG模块为配置有算法模式生成器的处理模块。

进一步的，在所述监控经过总线发送的读写寄存器命令之前，所述方法还包括以下步骤：

取消查询总线过程中的Sleep函数的调用工作；

查询总线是否空闲。

具体的，所述自定义存储空间建立在Linux系统的文件系统中。

具体的，所述自定义存储空间的存储地址被配置成可通过对应的总线接口访问

第二方面，本申请提供了一种针对半导体存储器老化测试的离线调试装置，所述装置包括：

总线驱动模块，用于监控经过总线发送的读写寄存器命令；