[发明专利]一种多晶硅薄膜钝化背极插指型太阳能电池的制备方法有效
申请号: | 202110183832.1 | 申请日: | 2021-02-10 |
公开(公告)号: | CN112736163B | 公开(公告)日: | 2022-07-29 |
发明(设计)人: | 孙巍泉 | 申请(专利权)人: | 普乐(合肥)光技术有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/0224;H01L31/068 |
代理公司: | 蚌埠鼎力专利商标事务所有限公司 34102 | 代理人: | 王琪 |
地址: | 230000 安徽省合肥市*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 多晶 薄膜 钝化 背极插指型 太阳能电池 制备 方法 | ||
1.一种多晶硅薄膜钝化背极插指型太阳能电池的制备方法,其特征在于,包括以下步骤为:
(1)在P型硅基底上制备第一SiO2隧穿层,然后再沉积一层硼掺杂的P型非晶硅薄膜;
(2)制备第二SiO2薄膜层;
(3)注入氩离子把第二SiO2薄膜层非晶化,使第二SiO2薄膜层成为非晶化的第二SiO2薄膜层;
(4)激光扫描对非晶化的第二SiO2薄膜层进行区域修补,修补区作为湿法刻蚀的保护区;
(5)湿法刻蚀去除未被保护区保护的非晶化的第二SiO2薄膜层,同时P型非晶硅薄膜被减薄,保护区则被保留;
(6)沉积磷掺杂的N型非晶硅薄膜;
(7)对保护区两侧的N型非晶硅薄膜和P型非晶硅薄膜进行激光刻划出隔离槽,作为插指区;
(8)对保护区对应区域的N型非晶硅薄膜进行激光晶化成多晶硅薄膜;
(9)利用多晶硅薄膜刻蚀速率大于非晶硅薄膜刻蚀速率的特点,刻蚀掉多晶硅薄膜、保护区和非晶化的第二SiO2薄膜层;
(10)高温退火,使P型非晶硅薄膜和N型非晶硅薄膜转化为插指区的多晶硅薄膜;
(11)在插指区内制备插指区SiO2薄膜,从而形成插指型多晶硅薄膜钝化背极;
(12)在步骤(11)的插指型多晶硅薄膜钝化背极的正面刻蚀绒面,用ALD沉积氧化铝钝化膜,用PECVD沉积SiN减反膜,背面先用PECVD沉积SiN减反膜,然后沉积背面金属,从而完成多晶硅薄膜钝化背极插指型太阳能电池的制备。
2.一种多晶硅薄膜钝化背极插指型太阳能电池的制备方法,其特征在于,包括以下步骤为:
(1)在N型硅基底上制备第一SiO2隧穿层,然后再沉积一层磷掺杂的N型非晶硅薄膜;
(2)制备第二SiO2薄膜层;
(3)注入氩离子把第二SiO2薄膜层非晶化,使第二SiO2薄膜层成为非晶化的第二SiO2薄膜层;
(4)激光扫描对非晶化的第二SiO2薄膜层进行区域修补,修补区作为湿法刻蚀的保护区;
(5)湿法刻蚀去除未被保护区保护的非晶化的第二SiO2薄膜层,同时N型非晶硅薄膜被减薄,保护区则被保留;
(6)沉积硼掺杂的P型非晶硅薄膜;
(7)对保护区两侧的N型非晶硅薄膜和P型非晶硅薄膜进行激光刻划出隔离槽,作为插指区;
(8)对保护区对应区域的P型非晶硅薄膜进行激光晶化成多晶硅薄膜;
(9)利用多晶硅薄膜刻蚀速率大于非晶硅薄膜刻蚀速率的特点,刻蚀掉多晶硅薄膜、保护区和非晶化的第二SiO2薄膜层;
(10)高温退火,使P型非晶硅薄膜和N型非晶硅薄膜都转化为插指区的多晶硅薄膜;
(11)在插指区内制备插指区SiO2薄膜,从而形成插指型多晶硅薄膜钝化背极;
(12)在步骤(11)的插指型多晶硅薄膜钝化背极的正面刻蚀绒面,用ALD沉积氧化铝钝化膜,用PECVD沉积SiN减反膜,背面先用PECVD沉积SiN减反膜,然后沉积背面金属,从而完成多晶硅薄膜钝化背极插指型太阳能电池的制备。
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