[发明专利]一种确定电容基准的方法、电容基准的确定装置和设备

权利要求书

1.一种确定电容基准的方法，其特征在于，应用于具有双层电容传感器的设备，所述方法包括：

获取所述双层电容传感器的第一差分电容值，所述第一差分电容值为所述设备处于盒子外的状态下获取的最小的差分电容值，所述盒子为与所述设备配对且用于容置所述设备的配套设备；

当所述设备为处于盒子内的状态，或者所述设备为处于盒子外且耳外的状态时，根据所述第一差分电容值和差分电容基准值，确定最新的差分电容基准值；

所述根据所述第一差分电容值和所述差分电容基准值，确定最新的差分电容基准值包括：

当所述第一差分电容值和所述差分电容基准值的差值的绝对值大于预设的第一阈值时，按照预设的校准方式，确定所述最新的差分电容基准值；或者，

当所述第一差分电容值和所述差分电容基准值的差值的绝对值小于或等于预设的第一阈值时，则所述差分电容基准值作为所述最新的差分电容基准值，所述第一阈值用于指示所述双层电容传感器处于异常状态。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：获取所述设备位于所述盒子内时所述双层电容传感器的第二差分电容值，根据所述第二差分电容值和所述第一差分电容值，确定所述设备是否出现异常；

当确定所述设备未出现异常时，根据所述第一差分电容值和所述差分电容基准值，按照预设的校准方式，确定所述最新的差分电容基准值。

3.根据权利要求2所述的方法，所述第一差分电容值为所述设备位于所述盒子内之前的时间内获取的最小的差分电容值。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述第二差分电容值和所述第一差分电容值，确定所述设备是否出现异常包括：

当所述第一差分电容值小于或等于所述第二差分电容值时，确定所述设备未出现异常；或者

当所述第一差分电容值大于所述第二差分电容值时，确定所述设备出现异常。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一差分电容值和差分电容基准值，确定最新的差分电容基准值包括：

所述设备处于所述盒子外且耳外的状态时，根据所述第一差分电容值和所述差分电容基准值，确定是否需要对所述差分电容基准值进行校准，若需要校准，则按照预设的校准方式将校准后的差分电容基准值作为所述最新的差分电容基准值，若不需要校准，则所述差分电容基准值作为所述最新的差分电容基准值。

6.根据权利要求2-5中任一项所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一差分电容值和所述差分电容基准值，确定最新的差分电容基准值包括：

当所述第一差分电容值和所述差分电容基准值的差值的绝对值大于预设的第一阈值时，确定对所述差分电容基准值进行校准；或者，

当所述第一差分电容值和所述差分电容基准值的差值的绝对值小于或等于预设的第一阈值时，确定不对所述差分电容基准值进行校准，所述第一阈值用于指示所述双层电容传感器处于异常状态。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述预设的校准方式包括：

若所述第一差分电容值大于所述差分电容基准值，确定校准后的所述最新的差分电容基准值为：

c(ref)_校准后=c(ref) +（c(min)-c(ref)）*k₁；或者，

若所述第一差分电容值小于所述差分电容基准值，确定校准后的所述最新的差分电容基准值为：

c(ref)_校准后= c(ref) +（c(min)-c(ref)）*k₂，

其中，c(ref)为所述差分电容基准值，c(ref)_校准后为校准后的所述最新的差分电容基准值，c(min)为所述第一差分电容值，k₁、k₂为校准系数，k₁大于或等于0且小于1，k₂大于或等于0且小于1，且k₁大于k₂。