[发明专利]批量修改时的数据唯一性校验方法及装置在审

专利信息
申请号: 202110184039.3 申请日: 2021-02-10
公开(公告)号: CN112965967A 公开(公告)日: 2021-06-15
发明(设计)人: 张勇;谢荣良 申请(专利权)人: 中国工商银行股份有限公司
主分类号: G06F16/215 分类号: G06F16/215;G06F16/22
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 任默闻;孙乳笋
地址: 100140 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 批量 修改 数据 唯一 校验 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种批量修改时的数据唯一性校验方法,其特征在于,包括:

建立待进行唯一性校验数据中的索引数据与伪列数据的映射;所述映射为一一对应关系;

根据所述待进行唯一性校验数据所进行的批量修改类型,对所述伪列数据进行修改;

根据所述映射以及修改后的伪列数据检验批量修改后的数据的唯一性。

2.如权利要求1所述的批量修改时的数据唯一性校验方法,其特征在于,所述根据所述映射以及修改后的伪列数据检验批量修改后的数据的唯一性包括:

若所述修改后的伪列数据与其对应的所述索引数据符合所述映射,则批量修改后的数据唯一;

若所述修改后的伪列数据与其对应的所述索引数据不符合所述映射,则所述批量修改后的数据不唯一。

3.如权利要求1所述的批量修改时的数据唯一性校验方法,其特征在于,还包括:

在所述待进行唯一性校验数据中设置所述伪列数据。

4.如权利要求3所述的批量修改时的数据唯一性校验方法,其特征在于,所述在所述待进行唯一性校验数据中设置所述伪列数据包括:

根据所述待进行唯一性校验数据中的至少一个索引数据生成伪列数据。

5.一种批量修改时的数据唯一性校验装置,其特征在于,包括:

映射建立模块,用于建立待进行唯一性校验数据中的索引数据与伪列数据的映射;所述映射为一一对应关系;

伪列数据修改模块,用于根据所述待进行唯一性校验数据所进行的批量修改类型,对所述伪列数据进行修改;

唯一性检验模块,用于根据所述映射以及修改后的伪列数据检验批量修改后的数据的唯一性。

6.如权利要求5所述的批量修改时的数据唯一性校验装置,其特征在于,所述唯一性检验模块包括:

数据唯一判断单元,用于若所述修改后的伪列数据与其对应的所述索引数据符合所述映射,则批量修改后的数据唯一;

数据不唯一判断单元,用于若所述修改后的伪列数据与其对应的所述索引数据不符合所述映射,则所述批量修改后的数据不唯一。

7.如权利要求5所述的批量修改时的数据唯一性校验装置,其特征在于,还包括:

伪列数据设置模块,用于在所述待进行唯一性校验数据中设置所述伪列数据。

8.如权利要求7所述的批量修改时的数据唯一性校验装置,其特征在于,所述伪列数据设置模块具体用于根据所述待进行唯一性校验数据中的至少一个索引数据生成伪列数据。

9.一种电子设备,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述程序时实现权利要求1至4任一项所述批量修改时的数据唯一性校验方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,该计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至4任一项所述批量修改时的数据唯一性校验方法的步骤。

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