[发明专利]一种芯片用自动检测芯片接脚通电效果的智能化装置

说明书

本发明涉及芯片技术领域，且公开了一种芯片用自动检测芯片接脚通电效果的智能化装置，包括芯片，所述芯片表面固定连接有接脚，芯片的表面活动连接有固定架，连杆的另一端活动连接有转盘，拨杆的另一端活动连接有摩擦杆，摩擦杆的表面固定连接有测针，活塞板的另一端活动连接有除锈剂囊，转动块的另一端固定连接有测杆，通过芯片的重量带动固定架向下移动，使得转盘转动，配合拨杆的连接作用，带动测针与每个接脚进行接触检测，T形杆上下往复运动的同时，带动活塞板往复挤压除锈剂囊，防止接脚表面的锈迹影响与测针接触不良，通过摩擦杆在竖直方向往复运动，使得测杆对两个接脚进行往复向上下两侧推动，检测接脚的牢固度。

技术领域

本发明涉及芯片技术领域，具体为一种芯片用自动检测芯片接脚通电效果的智能化装置。

背景技术

集成电路英语缩写作IC；或称微电路、微芯片、晶片/芯片在电子学中是一种将电路(主要包括半导体设备，也包括被动组件等)小型化的方式，并时常制造在半导体晶圆表面上，通过这种电路微型化的方式，可以极大节约空间，为智能化产品微型化提供条件。

芯片在加工完成后或出现故障时，都需要进行芯片接脚的通电检测，一般接脚通电检测是由人工进行，当接脚较多时，人工检测时间较长、检测效率低，除此之外，在芯片加工后，也需要对接脚的牢固度进行检测，而人工检测比较麻烦，因此，我们提供一种芯片用自动检测芯片接脚通电效果的智能化装置。

发明内容

(一)解决的技术问题

针对现有技术的不足，本发明提供了一种芯片用自动检测芯片接脚通电效果的智能化装置，具备自动检测芯片各接脚的通电情况、同时检测接脚牢固度的优点，解决了人工检测接脚牢固度和通电情况比较麻烦的问题。

(二)技术方案

为实现上述自动检测芯片各接脚的通电情况、同时检测接脚牢固度的目的，本发明提供如下技术方案：一种芯片用自动检测芯片接脚通电效果的智能化装置，包括芯片，所述芯片表面固定连接有接脚，芯片的表面活动连接有固定架，固定架的底部固定连接有支撑杆，固定架的表面活动连接有推杆，推杆的另一端活动连接有转杆，转杆的另一端活动连接有连杆，连杆的另一端活动连接有转盘，转盘的表面活动连接有T形杆，T形杆的另一端活动连接有拨杆，拨杆的另一端活动连接有摩擦杆，摩擦杆的表面固定连接有测针，摩擦杆的表面活动连接有限位仓，限位仓的内壁侧面固定连接有限位杆，T形杆的另一端固定连接有活塞板，活塞板的另一端活动连接有除锈剂囊，除锈剂囊的侧面固定连接有雾化口，摩擦杆的另一端活动连接有转动块，转动块的另一端固定连接有测杆。

优选的，所述固定架的表面开设有避让槽，芯片的底面与固定架表面的避让槽耦合。

优选的，所述推杆倾斜三十度连接在转杆的一端，连杆的另一端活动连接在转盘偏离轴心处。

优选的，所述转盘表面设置有卡块，T形杆的横杆表面开设有滑槽，转盘和T形杆通过卡块和滑槽活动连接。

优选的，所述拨杆的中点通过一连杆活动连接在限位仓的表面，摩擦杆表面开设有一避让槽，拨杆的一端与摩擦杆的避让槽耦合。

优选的，所述摩擦杆表面的底部开设有凹槽，限位杆的另一端活动连接在摩擦杆表面的凹槽内。

优选的，所述转动块的中点通过一固定架活动连接在除锈剂囊的表面，测杆初始与接脚接触。

(三)有益效果

与现有技术相比，本发明提供了一种芯片用自动检测芯片接脚通电效果的智能化装置，具备以下有益效果：