[发明专利]三维测量装置

权利要求书

1.一种三维测量装置，其中，

具备：

一个或多个光源部，其对被测量物照射具有规定图案的测量光；

一个或多个摄像部，其对被照射了所述测量光的所述被测量物进行摄像；

测量部，其基于所述摄像部的摄像结果测量所述被测量物的三维形状，

所述光源部由M点振荡的S－iPMSEL构成。

2.根据权利要求1所述的三维测量装置，其中，

包含单体的所述光源部和多个所述摄像部，

所述测量光的所述规定图案为由圆点图案、条形图案及格子图案中的任一个构成的周期图案，

所述测量部基于使用所述周期图案的主动立体声法测量所述被测量物的三维形状。

3.根据权利要求1所述的三维测量装置，其中，

包含单体的所述光源部和多个所述摄像部，

所述测量光的所述规定图案为随机圆点图案，

所述测量部基于使用所述随机圆点图案的主动立体声法测量所述被测量物的三维形状。

4.根据权利要求1所述的三维测量装置，其中，

包含单体的所述光源部和多个所述摄像部，

所述测量光的所述规定图案为具有均匀密度的图案，

所述测量部基于使用所述具有均匀密度的图案的主动立体声法测量所述被测量物的三维形状。

5.根据权利要求1所述的三维测量装置，其中，

包含多个所述光源部和单体的所述摄像部，

所述测量光的所述规定图案为格雷码图案，

所述测量部基于使用所述格雷码图案的三角测量法测量所述被测量物的三维形状。

6.根据权利要求1所述的三维测量装置，其中，

包含多个所述光源部和单体的所述摄像部，

所述测量光的所述规定图案为正弦波状的条形图案，

所述测量部基于使用所述正弦波状的条形图案的相移法测量所述被测量物的三维形状。

7.根据权利要求6所述的三维测量装置，其中，

所述多个所述光源部分别输出周期互不相同的正弦波状的条形图案。

8.根据权利要求1所述的三维测量装置，其中，

包含多个所述光源部和单体的所述摄像部，

所述测量光的所述规定图案为正弦波状的条形图案，

所述测量部基于使用所述正弦波状的条形图案的采样莫尔法测量所述被测量物的三维形状。

9.根据权利要求1所述的三维测量装置，其中，

包含多个所述光源部和单体的所述摄像部，

所述测量光的所述规定图案为使正弦波状的条形图案和随机圆点图案重叠的重叠图案，

所述测量部基于使用所述重叠图案的相移法测量所述被测量物的三维形状。

10.根据权利要求1所述的三维测量装置，其中，

包含多个所述光源部和单体的所述摄像部，

所述测量光的所述规定图案包含正弦波状的条形图案和格雷码图案，

所述测量部基于使用所述正弦波状的条形图案的相移法及使用所述格雷码图案的三角测量法测量所述被测量物的三维形状。

11.根据权利要求1所述的三维测量装置，其中，

包含多个所述光源部和多个所述摄像部，

所述测量光的所述规定图案为正弦波状的条形图案，

所述测量部基于使用正弦波状的条形图案的相移法及主动立体声法测量所述被测量物的三维形状。

12.根据权利要求1～11中任一项所述的三维测量装置，其中，

所述光源部及所述摄像部配置于立体物的表面。