[发明专利]涂料的太赫兹检测系统及方法在审

专利信息
申请号: 202110191952.6 申请日: 2021-02-19
公开(公告)号: CN112834425A 公开(公告)日: 2021-05-25
发明(设计)人: 孙丽;周铭;刘扬;严丽平;徐菲;严中亮;虞斌;杨雨健;吴玫晓;杨旻蔚 申请(专利权)人: 上海市环境科学研究院;华太极光光电技术有限公司
主分类号: G01N21/01 分类号: G01N21/01;G01N21/3586
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 代理人: 邬嫡波
地址: 200233 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 涂料 赫兹 检测 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种涂料的太赫兹检测系统,其特征在于,所述系统包括:

激光光源,用于发射激光;

分束器,用于将所述激光分成探测光和泵浦光;

发射光电导天线,用于接收所述泵浦光,并在所述泵浦光的作用下产生太赫兹波;

测试模块,用于放置涂料样品,并利用所述太赫兹辐射天线产生的太赫兹波照射所述涂料样品,以使所述涂料样品反射太赫兹波,获取携带所述涂料样品信息的太赫兹波;

接收光电导天线,用于接收所述分束器产生的探测光和所述携带所述涂料样品信息的太赫兹波,并转换成相应的电信号;

计算机,用于将所述电信号转换为太赫兹时域光谱信号,以基于所述太赫兹时域光谱信号识别所述涂料样品为水性涂料或油性涂料。

2.根据权利要求1所述的涂料的太赫兹检测系统,其特征在于:所述测试模块包括:第一离轴抛物面镜、第一太赫兹透镜、样品架、第二离轴抛物面镜、第二太赫兹透镜;

所述第一离轴抛物面镜用于反射发射光电导天线产生的太赫兹波至所述第一太赫兹透镜;

所述第一太赫兹透镜用于聚焦所述太赫兹波至样品架上放置的涂料样品,以使所述涂料样品反射所述携带涂料样品信息的太赫兹波至第二离轴抛物面镜;

所述第二离轴抛物面镜用于准直所述携带涂料样品信息的太赫兹波至第二离轴抛物面镜;

所述第二离轴抛物面镜用于反射所述携带涂料样品信息的太赫兹波至接收光电导天线。

3.根据权利要求1所述的涂料的太赫兹检测系统,其特征在于:还包括调制驱动器,用于为所述发射光电导天线提供电压。

4.根据权利要求1所述的涂料的太赫兹检测系统,其特征在于:还包括光程延迟装置,所述光程延迟装置用于反射从激光光源发射的探测光,并反射至所述接收光电导天线,以使所述探测光和所述携带所述涂料样品信息的太赫兹波同时到达所述接收光电导天线。

5.根据权利要求1所述的涂料的太赫兹检测系统,其特征在于:还包括锁相放大器,用于接收所述电信号并放大,并转发至计算机。

6.一种涂料的太赫兹检测方法,其特征在于,包括以下步骤:

将涂料样品放置于太赫兹检测系统的样品架上;

发射太赫兹波至所述涂料样品,接收经过所述样品反射的携带所述涂料样品信息的太赫兹波;

基于接收光电导天线接收所述携带所述涂料样品信息的太赫兹波,并转换成相应的电信号;

基于计算机将所述电信号转换为太赫兹时域光谱信号,以基于所述太赫兹时域光谱信号识别所述涂料样品为水性涂料或油性涂料。

7.根据权利要求6所述的涂料的太赫兹检测方法,其特征在于:发射太赫兹波至所述涂料样品,接收经过所述样品反射的携带所述涂料样品信息的太赫兹波包括:

基于激光光源发射激光;

基于分束器将所述激光分成探测光和泵浦光;

基于发射光电导天线接收所述泵浦光,并在所述泵浦光的作用下产生太赫兹波;

基于测试模块放置涂料样品,并利用所述太赫兹辐射天线产生的太赫兹波照射所述涂料样品,以使所述涂料样品反射太赫兹波,获取携带所述涂料样品信息的太赫兹波。

8.根据权利要求6所述的涂料的太赫兹检测方法,其特征在于:所述基于测试模块放置涂料样品,并利用所述太赫兹辐射天线产生的太赫兹波照射所述涂料样品,以使所述涂料样品反射太赫兹波,获取携带所述涂料样品信息的太赫兹波包括以下步骤:

基于所述第一离轴抛物面镜反射发射光电导天线产生的太赫兹波至所述第一太赫兹透镜;

基于所述第一太赫兹透镜聚焦所述太赫兹波至样品架上放置的涂料样品,以使所述涂料样品反射所述携带涂料样品信息的太赫兹波至第二离轴抛物面镜;

基于所述第二离轴抛物面镜准直所述携带涂料样品信息的太赫兹波至第二离轴抛物面镜;

基于所述第二离轴抛物面镜反射所述携带涂料样品信息的太赫兹波至接收光电导天线。

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