[发明专利]测试设备及测试治具有效

专利信息
申请号: 202110192407.9 申请日: 2021-02-20
公开(公告)号: CN113092983B 公开(公告)日: 2022-06-14
发明(设计)人: 林咏华;沈炳元 申请(专利权)人: 深圳市凯码时代科技有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 李辉
地址: 518101 广东省深圳市宝安区松岗街*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 测试 设备
【说明书】:

发明涉及一种测试设备及测试治具。测试治具包括治具本体、测试探针、固定板及用于放置电路板的定位件。治具本体设有安装部,测试探针设于安装部。定位件固定于固定板,并活动地穿设于治具本体,使治具本体能够相对固定板运动。电路板测试时,固定板连接于测试设备本体,并将电路板放置于定位件上,使固定板及电路板相对测试设备本体保持不动。若治具本体与电路板的位置出现偏差,固定板及电路板保持不动,带动测试探针及治具本体整体进行微调。如此,能够避免测试探针的弯曲变形,从而有效延长测试探针的使用寿命,并且使得该测试治具的稳定性更高。此外,通过微调装置对测试治具进行微调,无需使用传统的微调框,使得该测试治具的安装更方便。

技术领域

本发明涉及电路板测试技术领域,特别是涉及一种测试设备及测试治具。

背景技术

电路板是电子产品中重要的电子部件,其是电子元器件的支撑体,同时也是电子元器件电气连接的提供者。在电路板的制造过程中,电路板的测试步骤是直接影响出货产品质量的至关重要的一个环节。

一般地,将电路板放置在测试治具上,通过微调装置对测试治具的探针进行微调。然而,每做一次调整,测试治具的探针就会产生一次变形,在不断的弯曲变形下,测试治具的探针容易折断,影响测试治具的使用寿命。

发明内容

基于此,有必要提供一种测试设备及测试治具,能够避免测试探针发生弯曲变形,有效延长测试探针的使用寿命。

一种测试治具,所述测试治具包括:

治具本体,所述治具本体设有安装部;

测试探针,所述测试探针设于所述安装部,用于测试电路板;

固定板及用于放置所述电路板的定位件,所述定位件固定于所述固定板,并活动地穿设于所述治具本体,使所述治具本体及所述测试探针能够相对所述固定板运动。

上述的测试治具,电路板测试时,固定板连接于测试设备本体,并将电路板放置于定位件上,使固定板及电路板相对测试设备本体保持不动。若治具本体与电路板的位置出现偏差,固定板及电路板保持不动,带动测试探针及治具本体整体进行微调,直至将测试探针移动至最佳测试位置。如此,通过对测试探针及治具本体整体进行微调,这样能够避免测试探针发生弯曲变形,有效延长测试探针的使用寿命。并且,还使得该测试治具的稳定性更高。

在其中一个实施例中,所述治具本体设有第一标记部,所述第一标记部用于与电路板的第二标记部对应;所述测试治具还包括对应所述第一标记部设置的图像采集器,所述图像采集器用于采集所述电路板的图像,并计算所述第一标记部与所述第二标记部之间的位置偏差值。

在其中一个实施例中,所述测试治具还包括顶杆,所述图像采集器设于所述顶杆,所述顶杆及所述图像采集器设于所述治具本体的内部,所述顶杆远离所述图像采集器的端部抵接于所述治具本体的底部;所述第一标记部设有透过孔,所述图像采集器朝向所述透过孔,并能够通过所述透过孔采集所述电路板的图像。

在另外一个实施例中,所述测试治具还包括焦距调节圈、顶杆及弹性件,所述第一标记部设有透过孔,所述焦距调节圈对应设于所述透过孔,所述弹性件设于所述治具本体远离所述第一标记部的一端;所述图像采集器设于所述顶杆,所述顶杆远离所述图像采集器的端部连接于所述弹性件,所述图像采集器抵接于所述焦距调节圈。

在其中一个实施例中,所述第一标记部设有两个,两个所述第一标记部呈对角设置;所述图像采集器设有两个,两个所述图像采集器一一对应两个所述第一标记部设置。

在其中一个实施例中,所述定位件设有至少两个,至少两个所述定位件沿所述固定板的长度方向间隔设置,且所述定位件用于对应所述电路板的侧部设置。

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