[发明专利]一致性测试方法、装置和存储介质在审
申请号: | 202110192883.0 | 申请日: | 2018-06-13 |
公开(公告)号: | CN112803997A | 公开(公告)日: | 2021-05-14 |
发明(设计)人: | 郑建宇;李胜平;杨婷 | 申请(专利权)人: | 华为技术有限公司 |
主分类号: | H04B10/079 | 分类号: | H04B10/079;H04B10/54;H04B10/61;H04B10/69 |
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地址: | 518129 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一致性 测试 方法 装置 存储 介质 | ||
1.一种光信号测试方法,其特征在于,所述方法包括:
获取光发射机发射的光信号中的测试码形,所述光信号为采用非归零码调制生成的光信号;
对所述测试码形进行均衡补偿,并使用均衡补偿后的测试码形合成测试眼图;
根据所述测试眼图与所述均衡补偿对应的噪声增强系数,确定第一参数的值,所述第一参数用于确定所述光发射机的发射机色散眼图闭合程度。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,若所述光信号是所述光发射机在相对强度噪声最大时发射的,则所述光信号一致性测试通过用于表征所述光发射机的一致性测试通过。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述测试眼图与所述噪声增强系数,计算第一参数的取值,包括:
根据所述测试眼图,构建第一采样窗口的直方图、第二采样窗口的直方图、第三采样窗口的直方图和第四采样窗口的直方图,所述第一采样窗口和所述第二采样窗口以上下对称的方式,分布在所述测试眼图左半部分,所述第三采样窗口和所述第四采样窗口以上下对称的方式,分布在所述测试眼图右半部分;
根据所述第一采样窗口的直方图、所述第二采样窗口的直方图、所述第三采样窗口的直方图、所述第四采样窗口的直方图和所述噪声增强系数,确定第一标准方差,所述第一标准方差为第二标准方差与第三标准方差之间的最小值,所述第二标准方差为所述光发射机在所述第一采样窗口和所述第二采样窗口达到目标误码率时能够支持的最大加性噪声的标准方差,所述第三标准方差为所述光发射机在所述第三采样窗口和所述第四采样窗口达到所述目标误码率时能够支持的最大加性噪声的标准方差;
根据所述第一标准方差,确定所述光发射机在达到所述目标误码率时能够支持的最大加性噪声的标准方差;
根据所述光发射机在达到所述目标误码率时能够支持的最大加性噪声的标准方差,确定所述第一参数的取值。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述根据所述第一采样窗口的直方图、所述第二采样窗口的直方图、所述第三采样窗口的直方图、所述第四采样窗口的直方图和所述噪声增强系数,确定第一标准方差,包括:
根据所述第一采样窗口的直方图、所述第二采样窗口的直方图和所述噪声增强系数,确定所述第二标准方差;
根据所述第三采样窗口的直方图、所述第四采样窗口的直方图和所述噪声增强系数,确定第三标准方差;
将所述第二标准方差和所述第三标准方差中的最小值作为所述第一标准方差。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述第一采样窗口所包括的采样点均位于所述测试眼图的上眼皮、且高于所述测试眼图的平均光功率,所述第二采样窗口所包括的采样点均位于所述测试眼图的下眼皮、且低于所述测试眼图的平均光功率,所述根据所述第一采样窗口的直方图、所述第二采样窗口的直方图和所述噪声增强系数,确定所述第二标准方差,包括:
根据所述第一采样窗口的直方图,确定所述第一采样窗口的直方分布函数,根据所述第二采样窗口的直方图,确定所述第二采样窗口的直方分布函数;
根据所述第一采样窗口的直方分布函数、所述第二采样窗口的直方分布函数、目标误码率,以及正态分布曲线函数,确定所述第二标准方差,所述正态分布曲线函数根据所述噪声增强系数、所述测试眼图的平均光功率、所述第二标准方差确定。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述正态分布曲线函数根据所述噪声增强系数、所述测试眼图的平均光功率、所述第二标准方差确定,包括:
所述正态分布曲线函数根据确定;
其中,Q(x)为所述正态分布曲线函数,所述y为所述x的自变量,所述y的取值范围为所述第一采样窗口和所述第二采样窗口内的采样点所对应的光功率值的最大值和最小值之间的区间,所述Pave为所述测试眼图的平均光功率,所述σL为所述第二标准方差,所述Ceq为所述噪声增强系数,所述z为所述正态分布曲线函数的积分变量。
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