[发明专利]包括裂纹检测器的显示驱动电路和包括显示驱动电路的显示设备在审

专利信息
申请号: 202110195153.6 申请日: 2021-02-20
公开(公告)号: CN113345353A 公开(公告)日: 2021-09-03
发明(设计)人: 黄轸弘;金时雨 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: G09G3/00 分类号: G09G3/00;G01R31/28
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 李敬文
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 包括 裂纹 检测器 显示 驱动 电路 设备
【说明书】:

一种显示驱动电路,包括中央区和围绕中央区的边界区。该显示驱动电路包括中央区中的第一裂纹检测器电路以及边界区中的第一裂纹感测线,其中第一裂纹检测器电路被配置为响应于第一测试命令检测第一裂纹感测线中的裂纹,并且输出包括关于第一裂纹感测线中存在或不存在裂纹的信息在内的测试结果信号。

相关申请的交叉引用

本申请要求享有于2020年3月2日在韩国知识产权局提交的第10-2020-0026132号韩国专利申请的优先权的权益,其公开内容通过全文引用一并于此。

技术领域

本发明构思涉及半导体设备,更具体地,涉及一种驱动显示面板以在其上显示图像的显示驱动电路、包括显示驱动电路的显示设备以及其中包括的裂纹检测电路。

背景技术

显示设备包括用于显示图像的显示面板和用于驱动显示面板的显示驱动电路。显示驱动电路可以通过从外部主机接收图像数据并且将与接收到的图像数据相对应的图像信号施加到显示面板的数据线,来驱动显示面板。

大多数半导体集成电路(IC)(例如,显示驱动电路中的包括半导体集成电路)容易破裂。破裂可能是由于外力造成的,例如在锯切过程中或装运后的冲击过程中发生的裂纹。这些裂纹可能会导致模块或组件的缺陷。特别地,可能会发生形成在DDI(显示驱动器IC)中的裂纹以及当以COG(玻璃上芯片)、COP(塑料上芯片)或COF(膜上芯片)形式组装模块时发生的裂纹,并且由此导致的缺陷可能要直到裂纹发生后才能够被识别。因此,用于检测这些裂纹的系统和方法特别有用。

发明内容

本发明构思的各方面提供了一种检测裂纹的显示驱动电路和一种显示设备。

根据本发明构思的一方面,一种显示驱动电路包括中央区和围绕中央区的边界区。该显示驱动电路包括:布置在中央区中的第一裂纹检测器电路,被配置为检测显示驱动电路中的裂纹并且输出测试结果信号;以及边界区中的第一裂纹感测线。第一裂纹检测器被配置为将第一测试信号发送到第一裂纹感测线的第一端,从第一裂纹感测线的第二端接收第一接收信号,并且根据第一测试信号与第一接收信号的比较结果输出测试结果信号。

根据本发明构思的另一方面,一种显示驱动电路包括中央区和围绕中央区的边界区。该显示驱动电路包括:中央区中的第一裂纹检测器电路;以及边界区中的第一裂纹感测线,其中第一裂纹检测器电路被配置为响应于第一测试命令检测第一裂纹感测线中的裂纹,并且输出包括关于第一裂纹感测线中存在或不存在裂纹的信息在内的测试结果信号。

根据本发明构思的另一方面,一种显示设备包括:显示面板,包括布置成行和列的多个像素;以及显示驱动电路,向连接到多个像素的多条数据线提供驱动信号并且包括裂纹检测器电路,其中裂纹检测器电路响应于测试命令检测显示驱动电路中的裂纹,并且将包括关于显示驱动电路中是否发生了裂纹的信息在内的测试结果信号输出到显示驱动电路的外部。

附图说明

通过以下结合附图的详细描述,将更清楚地理解本发明构思的实施例,附图中:

图1是根据本发明构思的示例实施例的显示设备的框图;

图2是根据本发明构思的示例实施例的显示驱动电路的平面图;

图3和图4是根据实施例的沿图2中的横截面A-A’截取的显示驱动电路的横截面视图;

图5是根据本发明构思的示例实施例的显示驱动电路的裂纹检测器的框图;

图6A是示出根据本发明构思的示例实施例在显示驱动电路中未发生裂纹的正常状态下接收信号和测试结果信号的时序图;

图6B是示出根据本发明构思的示例实施例在显示驱动电路中发生了裂纹的异常状态下接收信号和测试结果信号的时序图;

图7是根据本发明构思的示例实施例的显示驱动电路的平面图;

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