[发明专利]OPC修正方法在审

专利信息
申请号: 202110196848.6 申请日: 2021-02-22
公开(公告)号: CN112987488A 公开(公告)日: 2021-06-18
发明(设计)人: 张月雨 申请(专利权)人: 上海华力集成电路制造有限公司
主分类号: G03F1/36 分类号: G03F1/36
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人: 郭四华
地址: 201203 上海市浦*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: opc 修正 方法
【权利要求书】:

1.一种OPC修正方法,其特征在于,包括如下步骤:

步骤一、建立多个精度不同的OPC模型;

步骤二、提供需要做OPC修正的目标版图,所述目标版图的图形处于初始态;

步骤三、选择精度最低的OPC模型对所述目标版图进行多次OPC运算并形成精度最低的OPC模型对应的OPC中间层;

步骤四、选择精度更高一层的OPC模型对前一层精度的OPC模型形成的OPC中间层进行多次OPC运算并形成所选择精度的OPC模型对应的OPC中间层;

步骤五、重复步骤四直至形成精度次高的OPC模型对应的OPC中间层;

步骤六、选择精度最高的OPC模型对精度次高的OPC模型对应的OPC中间层进行多次OPC运算形成最终OPC结果。

2.如权利要求1所述的OPC修正方法,其特征在于:步骤一中包括2个精度的OPC模型,步骤四和步骤五省略。

3.如权利要求1或2的OPC修正方法,其特征在于:精度最高的OPC模型为按照量产要求建立的符合规格的OPC模型。

4.如权利要求3的OPC修正方法,其特征在于:精度次高以下的OPC模型为在精度最高的OPC模型的基础上进行模型参数简化或者模型计算范围减少生成的OPC模型;精度越小的OPC模型的运算速度越快。

5.如权利要求4的OPC修正方法,其特征在于:图形周期及尺寸在接近最小设计图形周期以及尺寸的1-2倍的范围内,采用精度次高以下的OPC模型进行OPC运算的模拟趋势和硅衬底上的实际量测数据相符。

6.如权利要求1或2的OPC修正方法,其特征在于:步骤三、步骤四和步骤五中各精度的OPC模型对应的OPC运算次数的最优解为,在得到符合要求的所述最终OPC结果的同时,节省的总OPC运算时间最多。

7.如权利要求6的OPC修正方法,其特征在于:步骤六中,精度最高的OPC模型对应的OPC运算次数为1到20次,精度最高的OPC模型对应的OPC运算次数越少节省的总OPC运算时间越多。

8.如权利要求6的OPC修正方法,其特征在于:步骤一中包括2个精度的OPC模型时,步骤三中精度最低的OPC模型对应的OPC运算次数为1到15次,精度最低的OPC模型对应的OPC运算次数的最优解从1到15次中选取。

9.如权利要求1的OPC修正方法,其特征在于:步骤六得到的最终OPC结果符合量产的OPC精度要求。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海华力集成电路制造有限公司,未经上海华力集成电路制造有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110196848.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top