[发明专利]深度检测装置和电子设备

权利要求书

1.一种深度检测装置，其特征在于，包括：

发射模组，所述发射模组用于向检测目标发射散斑光信号，所述发射模组被配置为使得所述散斑光信号产生正畸变；

成像镜头，所述成像镜头用于将所述散斑光信号照射到所述检测目标后返回的深度光信号成像至光电传感器，其中所述成像镜头被配置为使得所述深度光信号的成像产生负畸变；

光电传感器，所述光电传感器用于将所述深度光信号转化为电信号，

其中，所述负畸变与所述正畸变的畸变量的绝对值的差异不超过0.05，所述负畸变与所述正畸变分别为畸变量的绝对值大于或等于0.03的畸变。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述发射模组包括多个透镜，所述多个透镜被配置为使得所述散斑光信号产生所述正畸变。

3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述发射模组包括多个透镜和一个光信号复制元件，所述多个透镜和所述光信号复制元件被配置为使得所述散斑光信号产生所述正畸变。

4.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述成像镜头包括沿光轴前后排列的多个透镜，所述多个透镜被配置使得所述深度光信号的成像产生所述负畸变。

5.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述负畸变的畸变曲线满足公式：

y＝A1*x+A2*x²+A3*x³+A4*x⁴+A5*x⁵

其中，y表示畸变量，x表示视场角角度的归一化数值，A1-A5为参数系数，0.123≤A1≤0.147，-0.702≤A2≤-0.686，1.708≤A3≤1.718，-1.967≤A4≤-1.961，0.679≤A5≤0.683。

6.根据权利要求1中所述的装置，其特征在于，所述负畸变的畸变曲线满足在视场角为40度时所述畸变量为-0.2；视场角为30度时所述畸变量为-0.1；视场角为0度时所述畸变量为0。

7.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述发射模组包括：

光源，所述光源用于发射多束光信号；

发射镜头，所述发射镜头用于将所述光信号转化为平行光信号。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述发射模组还包括光信号复制元件，所述光信号复制元件用于将所述平行光信号复制以得到所述散斑光信号。

9.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述光源为垂直腔面发射激光器。

10.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述发射镜头为准直镜。

11.根据权利要求10所述的装置，其特征在于，所述准直镜包括沿光轴方向前后排列的多个透镜。

12.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述成像镜头为塑胶材质。

13.一种电子设备，其特征在于，包括：

如权利要求1至12中任一项所述的深度检测的装置，所述深度检测装置用于测量检测目标的深度信息；

控制单元，用于根据所述深度信息对所述电子设备的至少一项功能进行操作控制。