[发明专利]元件状态查询方法、装置、电子设备和存储介质在审

专利信息
申请号: 202110199014.0 申请日: 2021-02-22
公开(公告)号: CN112989089A 公开(公告)日: 2021-06-18
发明(设计)人: 董艳;骆光炬;薛海鸥 申请(专利权)人: 北京三一智造科技有限公司
主分类号: G06F16/58 分类号: G06F16/58
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 陈新生
地址: 100096 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 元件 状态 查询 方法 装置 电子设备 存储 介质
【说明书】:

发明提供一种元件状态查询方法、装置、电子设备和存储介质,所述方法包括:基于待查询元件的图像信息,确定待查询元件的类型;基于待查询元件的类型与待查询元件的目标状态信息之间的映射关系,在元件知识库中确定待查询元件的目标状态信息。由此可见,本发明实施例基于待查询元件的图像信息,可以准确确定待查询元件的类型,然后基于待查询元件的类型与待查询元件的目标状态信息之间的映射关系,实现在元件知识库中快速确定待查询元件的目标状态信息,避免传统方法中依赖维修人员查询元件状态信息导致效率较低的问题。

技术领域

本发明涉及计算机技术领域,尤其涉及一种元件状态查询方法、装置、电子设备和存储介质。

背景技术

作业机械(如旋挖钻机)在进行设备维修的过程中,需要获取设备元件的编码信息、拆装信息等。目前,多通过人工查询电子图册获取设备元件状态信息,但该方法效率较低,而且会由于人工失误导致查询遗漏或查询错误的问题。

发明内容

本发明提供一种元件状态查询方法、装置、电子设备和存储介质,用以解决现有技术中元件状态信息查询效率较低的缺陷。

本发明提供一种元件状态查询方法,包括:

基于待查询元件的图像信息,确定所述待查询元件的类型;

基于所述待查询元件的类型与所述待查询元件的目标状态信息之间的映射关系,在元件知识库中确定所述待查询元件的目标状态信息。

根据本发明提供的一种元件状态查询方法,所述元件知识库是基于如下步骤确定的:

确定各历史元件的状态信息,以及各历史元件的类型;

基于各历史元件的样本状态信息,以及各历史元件的样本状态信息与各历史元件的类型之间的映射关系,构建所述元件知识库。

根据本发明提供的一种元件状态查询方法,还包括:

若在所述元件知识库中不存在所述目标状态信息,则将采集所得的所述待查询元件的状态信息添加至所述元件知识库中,并在所述元件知识库中建立采集所得的状态信息与所述待查询元件的类型之间的映射关系。

根据本发明提供的一种元件状态查询方法,在元件知识库中确定所述待查询元件的目标状态信息之后,还包括:

确定所述待查询元件的实际状态信息;

若所述实际状态信息与所述目标状态信息不匹配,则基于所述实际状态信息更新所述元件知识库中的目标状态信息。

根据本发明提供的一种元件状态查询方法,所述基于待查询元件的图像信息,确定所述待查询元件的类型,包括:

将所述待查询元件的图像信息输入至元件分类模型,得到所述元件分类模型输出的所述待查询元件的类型;

其中,所述元件分类模型是基于样本元件的图像信息以及样本元件的类型标签训练得到的。

根据本发明提供的一种元件状态查询方法,所述元件知识库是基于身份认证确定访问权限的。

根据本发明提供的一种元件状态查询方法,所述目标状态信息包括所述待查询元件的元件信息以及维修信息中的至少一种。

本发明还提供一种元件状态查询装置,包括:

识别单元,用于基于待查询元件的图像信息,确定所述待查询元件的类型;

查询单元,用于基于所述待查询元件的类型与所述待查询元件的目标状态信息之间的映射关系,在元件知识库中确定所述待查询元件的目标状态信息。

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