[发明专利]温度检测电路、指纹芯片、指纹芯片模组及电子设备在审
申请号: | 202110199731.3 | 申请日: | 2021-02-22 |
公开(公告)号: | CN113063514A | 公开(公告)日: | 2021-07-02 |
发明(设计)人: | 杜俊涛;吴佳华 | 申请(专利权)人: | 深圳阜时科技有限公司 |
主分类号: | G01K7/01 | 分类号: | G01K7/01 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 温度 检测 电路 指纹 芯片 模组 电子设备 | ||
本申请提供了一种设在集成电路裸片内的温度检测电路,其包括电流产生电路、比较器、温度敏感元件及参考信号电路。电流产生电路分别在不同支路中对应经温度敏感元件和参考信号电路接地。温度敏感元件的电学特性随温度呈特定规律变化以在对应支路中形成随裸片温度变化的检测信号。参考信号电路用于提供与预设温度阈值对应的参考信号。参考信号与温度敏感元件在预设温度阈值下形成的检测信号相等。比较器分别通过不同输入端对应获取所述检测信号和参考信号,并通过比较检测信号与参考信号以在温度超出预设温度阈值时通过输出端输出相应的状态信号。本申请还提供一种指纹芯片、指纹芯片模组及电子设备。
技术领域
本申请属于半导体技术领域,尤其涉及一种温度检测电路、指纹芯片、指纹芯片模组及电子设备。
背景技术
为了满足电子设备轻薄化的设计要求,设置在所述电子设备上的芯片或芯片模组也趋向于微型化,做得越来越薄或越来越细。然而,微型化设计会让芯片或芯片模组的强度降低而容易破裂,而所述芯片或芯片模组破裂后,其内部的线路容易短路而导致温度过高,进而可能烫伤使用者甚至引发火灾等安全事故。
发明内容
本申请提供一种可以解决上述技术问题的温度检测电路,还提供一种使用该温度检测电路的指纹芯片、指纹芯片模组及电子设备。
本申请实施例提供了一种温度检测电路,设在集成电路裸片内以在检测到裸片温度高于预设温度阈值时发出相应的状态信号,所述温度检测电路包括电流产生电路、比较器、温度敏感元件及参考信号电路,所述电流产生电路的第一电流输出端经所述温度敏感元件接地以形成一第一支路,所述电流产生电路的第二电流输出端经所述参考信号电流接地以形成一第二支路,所述比较器包括第一输入端、第二输入端及输出端,所述温度敏感元件的电学特性随温度呈特定规律变化以在所述第一支路中形成随裸片温度变化的检测信号,所述比较器通过第一输入端从第一支路获取检测信号,所述参考信号电路用于提供与预设温度阈值对应的参考信号至所述第二输入端,所述参考信号与温度敏感元件在预设温度阈值下形成的所述检测信号相等,所述比较器用于比较所述检测信号与参考信号以在温度超出预设温度阈值时通过输出端输出相应的状态信号。
在某些实施例中,所述温度敏感元件为PNP型三极管,所述PNP型三极管包括发射极、集电极及基极,所述发射极连接至所述第一电流输出端,所述集电极和基极共同接地,所述比较器的第一输入端连接至所述PNP型三极管的发射极与第一电流输出端之间,以获取所述PNP型三极管基极与发射极之间的基射极间电压作为裸片温度的检测信号;或者
所述温度敏感元件为NPN型三极管,所述NPN型三极管包括发射极、基极及集电极,所述集电极与基极相连并共同连接至所述第一电流输出端,所述发射极接地,所述比较器的第一输入端连接至所述第一电流输出端与所述NPN型三极管的集电极之间,以获取所述NPN型三极管的基极与发射极之间的基射极间电压作为裸片温度的检测信号;或者
所述温度敏感元件为二极管,所述二极管包括正极和负极,所述二极管的正极连接至所述第一电流输出端,所述二极管145的负极接地,所述比较器的第一输入端连接至所述二极管的正极与所述第一电流输出端之间,以获取所述二极管的正极与负极之间的极间电压作为裸片温度的检测信号。
在某些实施例中,所述参考信号不随裸片温度的变化而变化。
在某些实施例中,所述检测信号与裸片温度之间呈线性的负温度系数变化关系。
在某些实施例中,所述参考信号电路通过在第二支路中设置电阻进行分压的方式来提供与预设温度阈值对应的电压作为所述参考信号,所述电流产生电路输出至第二支路中的电流能够补偿分压电阻随温度变化引起的阻值扰动以使得所述第二支路中电流与分压电阻的设定阻值的乘积保持不变,从而输出稳定的参考电压信号。
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