[发明专利]设备批量测试方法、装置、计算机设备及介质

说明书

本申请涉及一种设备批量测试方法、装置、计算机设备及介质，所述方法包括：向各所述待测设备写入对应的测试标识，其中，不同所述待测设备的测试标识不同；获取各所述待测设备的设备标识并生成设备标识序列；根据所述设备标识序列依次向各所述待测设备发送对应的测试用例，以使得各所述待测设备执行对应的测试用例；生成各所述待测设备的测试结果，所述测试结果对应相应的测试标识。本申请通过利用待测设备本身的设备标识作为桥梁，建立待测设备的测试结果与向该待测设备写入的测试标识的对应关系，并输出对应相应的测试标识的测试结果，测试成本低，效率高且可移植性好。

技术领域

本申请涉及自动化测试技术领域，具体涉及一种设备批量测试方法、装置、计算机设备及介质。

背景技术

随着半导体与集成电路技术的快速发展，市场对芯片产品的需求量越来越大，对芯片供应商生产效率的要求越来越高。为了提高芯片的供货质量，需要不断地提高对制成芯片的测试能力及测试效率。

传统的对芯片测试的方法很难实现对多个待测平台同时控制，不适用于芯片的批量化测试，测试程序移植性差；并且对主控设备与各待测平台之间的通讯能力要求很高，严重制约芯片批量化测试的能力与效率。如何实现对制成芯片的批量化高效测试，成为进一步提高芯片供应商供货能力及供货效率的关键因素之一。

发明内容

基于此，有必要针对上述背景技术中的问题，提供一种能够对设备批量化高效测试的设备批量测试方法、装置、计算机设备及介质，以有效提高设备产品的供货效率及供货质量。

为实现上述目的及其他目的，本申请的第一方面提供一种设备批量测试的方法，用于批量化测试多个待测设备，所述方法包括：

向各所述待测设备写入对应的测试标识，其中，不同所述待测设备的测试标识不同；

获取各所述待测设备的设备标识并生成设备标识序列；

根据所述设备标识序列依次向各所述待测设备发送对应的测试用例，以使得各所述待测设备执行对应的测试用例；

生成各所述待测设备的测试结果，所述测试结果对应相应的测试标识。

于上述实施例中的设备批量测试的方法中，通过预先设计好各待测设备的测试标识，其中，不同待测设备的测试标识不同，然后向各所述待测设备写入对应的测试标识，再获取各所述待测设备的设备标识并生成设备标识序列，以根据所述设备标识序列依次向各所述待测设备发送对应的测试用例，使得各所述待测设备执行对应的测试用例，从而获取各所述待测设备的包括对应的测试标识的测试结果，实现对设备批量化高效测试，以有效提高设备产品的供货效率及供货质量。由于本申请通过利用待测设备本身的设备标识作为桥梁，建立待测设备的测试结果与向该待测设备写入的测试标识的对应关系，并输出对应相应的测试标识的测试结果，测试成本低，效率高且可移植性好。

在其中一个实施例中，在向各所述待测设备写入对应的测试标识之前，还包括：

获取各所述待测设备的测试标识。

在其中一个实施例中，所述测试标识为用户自定义的测试标识。

在其中一个实施例中，所述获取各所述待测设备的设备标识并生成设备标识序列包括：

获取各所述待测设备的属性数据并将所述属性数据保存至第一预设文件；

根据所述第一预设文件利用对应的解析规则获取具有各所述待测设备的设备标识序列的第二预设文件。

在其中一个实施例中，所述根据所述设备标识序列依次向各所述待测设备发送对应的测试用例包括：

按照所述第二预设文件中的所述设备标识序列依次向各所述待测设备发送对应的测试用例。

在其中一个实施例中，所述获取各所述待测设备的测试结果包括：