[发明专利]薄膜晶体管阵列基板及其制作方法在审

专利信息
申请号: 202110206778.8 申请日: 2021-02-24
公开(公告)号: CN112838052A 公开(公告)日: 2021-05-25
发明(设计)人: 李治朝 申请(专利权)人: 昆山龙腾光电股份有限公司
主分类号: H01L21/77 分类号: H01L21/77;H01L27/12
代理公司: 上海波拓知识产权代理有限公司 31264 代理人: 蔡光仟
地址: 215301 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 薄膜晶体管 阵列 及其 制作方法
【权利要求书】:

1.一种薄膜晶体管阵列基板的制作方法,其特征在于,包括:

提供衬底基板(11);

在所述衬底基板(11)上形成第一绝缘层(13);

在所述第一绝缘层(13)上形成钝化层薄膜(140),对所述钝化层薄膜(140)进行蚀刻形成具有棱镜结构的第一钝化层(14);

在所述第一绝缘层(13)上形成覆盖所述第一钝化层(14)的平坦化层(15);

在所述平坦化层(15)上形成第二绝缘层(16);

在所述第二绝缘层(16)上形成第一金属薄膜;

在所述第一金属薄膜上涂布光阻(24)并对所述光阻(24)进行曝光和显影,以留下的光阻(24)作为遮罩对所述第一金属薄膜进行蚀刻制作第一金属层,且光阻(24)继续覆盖在所述第一金属层上;

继续利用光阻(24)作为遮罩对所述第二绝缘层(16)进行蚀刻,以去除未被光阻(24)覆盖的所述第二绝缘层(16),使未被光阻(24)覆盖的所述平坦化层(15)露出;

去除光阻(24)以露出所述第一金属层,其中所述第一金属层包括栅极(17)和扫描线。

2.如权利要求1所述的薄膜晶体管阵列基板的制作方法,其特征在于,还包括:

在露出的所述平坦化层(15)上形成覆盖所述栅极(17)和所述扫描线的栅极绝缘层(18);

在所述栅极绝缘层(18)上形成有源层薄膜,对所述有源层薄膜进行蚀刻制作有源层(19);

在所述栅极绝缘层(18)上形成第一氧化物导电层,对所述第一氧化物导电层进行蚀刻制作像素电极(20);

在所述栅极绝缘层(18)上形成第二金属薄膜,对所述第二金属薄膜进行蚀刻制作第二金属层,所述第二金属层包括源极(211)、漏极(212)和数据线,所述源极(211)和所述漏极(212)分别与所述有源层(19)连接,且所述源极(211)与所述数据线连接,所述漏极(212)与所述像素电极(20)连接。

3.如权利要求2所述的薄膜晶体管阵列基板的制作方法,其特征在于,还包括:

在所述栅极绝缘层(18)上形成覆盖所述第二金属层、所述像素电极(20)和所述有源层(19)的第二钝化层(22);

在所述第二钝化层(22)上形成第二氧化物导电层,对所述第二氧化物导电层进行蚀刻制作公共电极(23)。

4.如权利要求3所述的薄膜晶体管阵列基板的制作方法,其特征在于,还包括:

在所述衬底基板(11)上形成所述第一绝缘层(13)之前,先在所述衬底基板(11)上形成外围线路金属薄膜,对所述外围线路金属薄膜进行蚀刻制作外围线路金属层,所述外围线路金属层包括公共电极配线层(12);

在所述栅极绝缘层(18)上形成所述第二钝化层(22)之后,先在所述公共电极配线层(12)的上方区域通过蚀刻形成通孔(181),然后在所述第二钝化层(22)上形成所述第二氧化物导电层,再对所述第二氧化物导电层进行蚀刻制作所述公共电极(23),所述公共电极(23)填入所述通孔(181)内并与所述公共电极配线层(12)连接。

5.如权利要求1-4任一项所述的薄膜晶体管阵列基板的制作方法,其特征在于,所述第一绝缘层(13)的材质为氮氧化硅或氧化硅,所述第一钝化层(14)的材质为氮化硅。

6.一种薄膜晶体管阵列基板,其特征在于,包括:

衬底基板(11);

形成在所述衬底基板(11)上的第一绝缘层(13);

形成在所述第一绝缘层(13)上的第一钝化层(14),所述第一钝化层(14)具有棱镜结构;

形成在所述第一绝缘层(13)上且覆盖所述第一钝化层(14)的平坦化层(15);

形成在所述平坦化层(15)上的第二绝缘层(16);

形成在所述第二绝缘层(16)上的第一金属层,其中所述第一金属层包括栅极(17)和扫描线,所述第二绝缘层(16)和所述第一金属层具有相同的图案化结构且上下相互层叠。

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