[发明专利]一种可实现表面旋转的调整架

说明书

本发明公开了一种可实现表面旋转的调整架，包括上压紧单元、下旋转单元、圆架、下转动杆、上旋钮、方架、上盖、约束单元、底足单元和下压紧单元，所述上压紧单元和下压紧单元的两个压紧头和弹簧部件实现对被测件的夹紧，其中两套上压紧单元安装在圆架内上部两侧，利用圆架使被测件实现在被测件的前后表面进行旋转，并实现定位、夹紧和减振。在使用本发明调整架对被测件的夹持和表面旋转的过程中，因为使用了旋钮进行旋转以及通过相关部件进行约束，避免了被测件表面容易被污损的风险，避免了在多次调整倾斜和夹持位置的过程中纳入测量误差的可能，减少整体的结构振动，降低振动误差。

技术领域

本发明涉及一种可以实现表面旋转的调整架，尤其是通过所设置的调整架附属装置实现被测件的前后表面旋转的调整架，可以对被测件进行夹持和旋转，适用于光学透镜的夹持和调整。

技术背景

光学透镜在光学系统的设计和构建中具有重要作用。使用激光干涉仪对光学透镜进行表面的测量是一种广泛应用的手段。

在进行激光干涉测量时，作为被测件的光学透镜需要被调整架夹持并且放置在干涉仪前方，并且由于干涉测量技术对于振动噪声等因素较为敏感，因此所述的调整架需要具备减振的功能；与此同时，在对被测件进行测量时，往往需要对被测件的前后表面进行调整，如：在使用硬件干涉仪对光学透镜进行测量时，单次只可以测量一个表面，因此在当前表面测量完成时需要把光学透镜从调整架上取下，然后旋转为另一表面，再进行夹持和测量。在这个过程中，非常容易纳入很多误差：(1)在取下和再次夹持的过程中，被测件表面容易被污损；(2)在再次夹持时，需要对调整架的夹持部分进行调整，以保证与前次测量时被测件处于相同的测量位置。对于干涉测量技术而言，该测量位置须非常准确，否则极易纳入测量误差；(3)在进行干涉测量时，需要对表面倾斜进行调整，否则所采集到的干涉图的倾斜量较大时会引入较大误差，不能满足高精度测量的需要。而传统调整架需要多次对被测件夹持和取下，这个过程中每次都需要对被测件的倾斜进行调整，无疑会增加测量成本和测量难度。

基于以上所提及的目前的夹持方法的特性和不足，如何设计和开发一种可以实现表面旋转的调整架，成为急需解决的技术问题。

发明内容

为了解决现有技术问题，本发明的目的在于克服已有技术存在的不足，提供一种可实现表面旋转的调整架，解决现有测量方法中的缺陷，特别是光学透镜在进行干涉测量时的夹持和旋转问题。本发明所针对的夹持对象是光学透镜，该种透镜的表面需要高精度测量从而对表面的形貌特性进行精确的重建和评定，因此需要尽可能地减少在测量过程中有可能纳入的测量误差，以及尽可能的简化测量过程，降低测量成本。

为达到上述目的，本发明采用下述技术方案：

一种可实现表面旋转的调整架，包括上压紧单元、下旋转单元、圆架、下转动杆、上旋钮、方架、上盖、约束单元、底足单元和下压紧单元；所述上压紧单元和下压紧单元的两个压紧头和弹簧部件实现对被测件的夹紧，其中两套上压紧单元安装在圆架内上部两侧，利用圆架使得被测件能够实现前后表面的旋转，并实现被测件的精确定位、夹紧和减振。

优选地，上压紧单元包括压紧头、上套管、下套管、套管弹簧、压紧片，上压紧单元一式两套，分别安装在圆架内上部两侧，通过上套管两侧各设置一个的铆接孔以及圆架内上部两侧的铆接孔进行铆接。

优选地，下压紧单元形制中空，顶部为一凸起，该凸起外部设置有外螺纹，与一个压紧头进行螺纹连接；下压紧单元两侧各有一个铆接孔，与圆架上的铆接孔通过铆钉进行铆接；下压紧单元底部为弧形，该弧形的曲率应与圆架相对应部分曲率相同；

约束单元包括约束块、约束弹簧；约束块的形制为一侧为内凹弧形的长方体，安装在上盖和方架的中间；约束块中部的内凹放置上旋钮的上部；约束弹簧设置有两个，分别安装在两个约束块两侧，使之相连，安装方式可为焊接方式；