[发明专利]串扰效应测试方法、电路和装置

权利要求书

1.一种串扰效应测试方法，其特征在于，包括：

获取测试信号和干扰输入信号；

将所述测试信号和所述干扰输入信号输入至模拟得到的串扰效应测试电路，得到被干扰信号，其中，所述串扰效应测试电路包括第一电路、N个第二电路和N个电容，所述第一电路用于模拟被测试集成电路中被干扰的第一信号电路，所述第一电路的输入端用于接收测试信号，所述第一电路的输出端用于输出所述被干扰信号；所述N个第二电路用于模拟所述被测试集成电路中对所述第一信号电路进行干扰的N个第二信号电路，N为大于0的整数，所述第二电路的输入端用于接收所述干扰输入信号，所述第二电路的输出端用于输出干扰信号；

N个电容，所述电容的一个极板连接所述第一电路，所述电容的另一个极板连接所述第二电路，所述电容的电容值是根据测得的所述第二信号电路和所述第一信号电路之间的耦合电容值确定的；所述N个第二电路是根据所述第一信号电路和多个所述第二信号电路之间耦合电容的电容值大小选取N个电容并连接到所述串扰效应测试电路中得到的；其中所述N个电容是电容值大小排名前N大的电容；所述测试信号通过所述电容接受所述干扰信号的影响后成为被干扰信号； 所述第二信号电路与所述第一信号电路之间的耦合电容通过版图寄生效应提取工具提取；

当所述被干扰信号的上升时间或所述被干扰信号的下降时间大于预设时间阈值时，确定所述被测试集成电路存在过度的串扰效应；

所述第一电路包括：

反相单元，所述反相单元的输入端用于接收所述测试信号，并对所述测试信号进行反相处理后输出反相测试信号。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：

根据所述第一信号电路模拟出所述第一电路，并根据N个所述第二信号电路模拟出N个所述第二电路；

获取所述第二信号电路与所述第一信号电路之间的耦合电容值，并根据所述耦合电容值创建所述电容。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述第一电路还包括：

第一驱动单元，所述第一驱动单元的输入端与所述反相单元的输出端连接，所述第一驱动单元的输出端用于输出所述被干扰信号；

第一负载单元，所述第一负载单元的输入端与所述第一驱动单元的输出端连接。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述第二电路包括：

第二驱动单元，所述第二驱动单元的输入端用于接收所述干扰输入信号，所述第二驱动单元的输出端用于输出所述干扰信号；

第二负载单元，所述第二负载单元的输入端与所述第二驱动单元的输出端连接；

所述电容的一个极板与所述第二驱动单元的输出端连接，且与所述第二负载单元的输入端连接，所述电容的另一个极板与所述第一电路连接。

5.根据权利要求1-4任一项所述的方法，其特征在于，还包括：

创建控制开关，其中，所述控制开关的一端连接所述电容的一个极板，所述控制开关的另一端与所述第一电路或所述第二电路连接，所述控制开关与所述电容串联连接。

6.根据权利要求1-4任一项所述的方法，其特征在于，所述测试信号和所述干扰输入信号为同相位的脉冲信号，所述干扰输入信号的上升时间和下降时间均为预设时间。