[发明专利]缺陷检测方法、装置及电子设备

权利要求书

1.一种缺陷检测方法，包括：

获取待检测对象的图像；

获取所述图像中像素的亮度信息；

根据所述亮度信息，获得所述待检测对象的外观缺陷信息，其中，所述外观缺陷信息表征所述待检测对象外观中存在的缺陷；

其中，根据所述亮度信息，获得所述待检测对象的外观缺陷信息，包括：根据所述亮度信息，获得所述图像中全部像素的亮度均值；在所述亮度均值大于第一亮度阈值，或者小于第二亮度阈值的情况下，确定所述外观缺陷信息为表征存在严重外观缺陷的信息，反之，确定所述外观缺陷信息为表征不存在严重外观缺陷的信息；

在所述待检测对象的外观不存在严重外观缺陷的情况下，对所述待检测对象外观是否存在折断痕、外观是否存在大范围粗糙区域、外观是否存在凹坑以及外观是否存在弯折进行检测；

其中，在对所述待检测对象外观是否存在凹坑进行检测时，所述根据所述亮度信息，获得所述待检测对象的外观缺陷信息，包括：

根据所述亮度信息，使用第一预设局部阈值分割算法获得所述图像中的第一亮点区域集合和第一暗点区域集合，其中，所述第一亮点区域集合包括至少一个亮点区域，所述第一暗点区域集合包括至少一个暗点区域；

根据所述第一亮点区域集合和所述第一暗点区域集合，获得多个区域对，其中，所述区域对由所述第一亮点区域集合中的任一亮点区域和所述第一暗点区域集合中的任一暗点区域组成；

根据所述多个区域对，获得所述待检测对象的外观中的凹坑信息，其中，所述凹坑信息包括所述待检测对象的外观中存在的凹坑的位置信息；

根据所述凹坑信息，获得所述外观缺陷信息；

其中，所述根据所述多个区域对，获得所述待检测对象的外观中的凹坑信息，包括：

计算所述多个区域对中每一区域对包括的亮点区域和暗点区域之间的距离；

从所述多个区域对中，选择对应距离小于预设距离阈值的区域对，获得多个待确定区域对；

计算所述多个待确定区域对中每一区域对包括的亮点区域和暗点区域之间的平均亮度差；

根据所述平均亮度差，获得目标区域对；

根据所述目标区域对，获得所述凹坑信息。

2.根据权利要求1所述的方法，所述根据所述亮度信息，获得所述待检测对象的外观缺陷信息，包括：

沿垂直方向拆分所述图像，获得多个子图像；

根据所述亮度信息，获得与第一子图像对应的第一亮度信息，其中，所述第一子图像为所述多个子图像中的任一子图像；

根据所述第一亮度信息，对所述第一子图像中的像素执行亮度垂直积分投影处理，获得与所述第一子图像对应的第一垂直积分投影曲线；

根据所述第一垂直积分投影曲线，获得第一折断痕信息，其中，所述第一折断痕信息包括第一区域中存在的折断痕的位置信息，所述第一区域为所述待检测对象的外观中与所述第一子图像对应的区域；

根据所述第一折断痕信息，获得所述外观缺陷信息。

3.根据权利要求2所述的方法，所述根据所述第一垂直积分投影曲线，获得第一折断痕信息，包括：

对所述第一垂直积分投影曲线进行一阶求导处理，获得第一目标曲线；

按照预设间隔拆分所述第一目标曲线，获得多个子目标曲线；

获取与所述多个子目标曲线一一对应的多个数值对，其中，所述数值对由对应子目标曲线中的最小值和最大值组成；

根据所述多个数值对，获得所述第一折断痕信息。

4.根据权利要求3所述的方法，所述根据所述多个数值对，获得所述第一折断痕信息，包括：

获取第一数值对，其中，所述第一数值对为所述多个数值对中的任一数值对；

获取所述第一数值对中的第一最小值和第一最大值；

在所述第一最小数值小于第一预设阈值，并且所述第一最大数值大于第二预设阈值的情况下，将所述第一数值对在所述待检测对象中对应的区域的位置信息作为所述第一折断痕信息。

5.根据权利要求1所述的方法，在执行所述根据所述第一亮点区域集合和所述第一暗点区域集合，获得多个区域对步骤之前，所述方法还包括：

从所述第一亮点区域中过滤区域面积小于或等于第一预设面积阈值的亮点区域；以及，

从所述第一暗点区域中过滤区域面积小于或等于第二预设面积阈值的暗点区域。