[发明专利]环形器件中心定位装置、方法及应用

权利要求书

1.一种环形器件中心定位装置，其特征在于，包括：

样品台，所述样品台包括基部以及设于所述基部上的定位部，所述定位部和所述基部之间形成台阶，所述定位部的外形与待测环形器件内孔相适配；所述样品台沿高度方向开设有贯通所述定位部和所述基部的通孔，所述通孔的中心轴线与所述定位部的中心轴线重合；以及

检测组件，所述检测组件包括检测杆、升降机构以及磁感应强度传感器，所述检测杆能够插入所述通孔中并能够沿着所述通孔的轴向移动，所述升降机构连接所述检测杆以控制所述检测杆移动，所述磁感应强度传感器具有用于检测磁感应强度的探头，所述探头设于所述检测杆一端。

2.根据权利要求1所述的环形器件中心定位装置，其特征在于，所述样品台由不导磁材料制成。

3.根据权利要求2所述的环形器件中心定位装置，其特征在于，所述样品台的材质为铜、铝、树脂、玻璃或陶瓷。

4.根据权利要求1所述的环形器件中心定位装置，其特征在于，所述基部上设有一个或多个所述定位部，当所述定位部为多个时，多个定位部依次叠设且相邻定位部之间形成台阶。

5.根据权利要求1所述的环形器件中心定位装置，其特征在于，所述定位部的高度为2mm～10mm。

6.根据权利要求1所述的环形器件中心定位装置，其特征在于，所述升降机构包括升降杆、升降平台以及控制机构，所述升降平台连接于所述升降杆且能够沿所述升降杆升降，所述控制机构连接所述升降平台以控制所述升降平台升降。

7.根据权利要求1所述的环形器件中心定位装置，其特征在于，还包括外形尺寸与待测环形器件一致的永磁环，所述永磁环的内孔与所述定位部的外形相适配。

8.一种环形器件中心定位方法，其特征在于，包括以下步骤：

提供外形尺寸与待测环形器件一致的永磁环；

提供样品台，所述样品台包括基部以及设于所述基部上的定位部，所述定位部和所述基部之间形成台阶，所述定位部的外形与待测环形器件内孔相适配；沿样品台高度方向开设贯通定位部和基部的通孔，并使得所述通孔的中心轴线与所述定位部的中心轴线重合；

将永磁环套于所述样品台的定位部外侧；

利用检测组件检测永磁环的磁感应强度，所述检测组件包括检测杆、升降机构以及磁感应强度传感器，所述升降机构连接所述检测杆以控制所述检测杆移动，所述磁感应强度传感器具有用于检测磁感应强度的探头，所述探头设于所述检测杆一端；将所述检测杆设有所述探头的一端伸入所述通孔内，通过升降机构控制检测杆沿通孔的轴向移动，当磁感应强度传感器检测到的磁感应强度最大时，检测杆停止移动，此时所述探头所处的位置即为永磁环的中心；

固定所述探头和所述样品台的相对位置，将所述永磁环从所述样品台取下，将待测环形器件套于所述定位部外侧，根据所述探头位置确定待测环形器件的中心位置。

9.根据权利要求8所述的环形器件中心定位方法，其特征在于，所述待测环形器件为磁环或非磁环。

10.一种如权利要求1-7任意一项所述的环形器件中心定位装置在永磁环的磁场检测中的应用。