[发明专利]一种扫描装置的时间校正系统及其时间校正方法有效
申请号: | 202110216948.0 | 申请日: | 2021-02-26 |
公开(公告)号: | CN112998736B | 公开(公告)日: | 2022-08-30 |
发明(设计)人: | 郭铭浩;昝云龙;赵指向;洪翔;黄秋 | 申请(专利权)人: | 中派科技(深圳)有限责任公司;上海交通大学 |
主分类号: | A61B6/03 | 分类号: | A61B6/03 |
代理公司: | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人: | 林凡燕 |
地址: | 518055 广东省深圳市南山区西丽街道*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 扫描 装置 时间 校正 系统 及其 方法 | ||
本发明提出一种扫描装置的时间校正系统及其时间校正方法,包括:将模体设置在扫描视野的预设区域内;定义响应线;采集符合事件,根据所述第一探测器与所述模体的距离,以及所述第二探测器与所述模体的距离,对所述符合事件的飞行时间差进行修正,以获得飞行时间差的修正值;根据所述探测器的反应时间、所述第一射线的能量、所述第二射线的能量、所述相交长度和所述飞行时间差的修正值建立计算模型;利用所述计算模型,来获得每一所述探测器的反应时间参数等步骤。本发明提出的扫描装置的时间校正系统及其时间校正方法可以提高重建的TOF‑PET图像的精准性。
技术领域
本发明涉及医疗影像技术领域,特别涉及一种扫描装置的时间校正系统及其时间偏移校正方法。
背景技术
飞行时间正电子发射断层成像(TOF-PET)扫描仪是核医学成像中的一种先进的功能成像工具,其应用前景已经受到核医学成像研究者和设备制造厂商的高度重视,其成像原理是:通过对生物体进行扫描前,给生物体注射含有放射性核素的示踪剂,示踪剂在生物体内会发生β+衰变并产生正电子,衰变后产生的正电子与生物体内的电子相遇时会发生正负电子对湮灭反应,从而生成一对方向相反、能量相同的γ光子,环绕在被测生物体周围的探测器对这对光子进行探测,并将信息以符合事件的形式进行存储,经一系列的电子学响应,将所述电子学响应信号输入至计算机,以通过相应的图像重建算法生成能够反映示踪剂在生物体内分布的图像。TOF-PET具有时间测量功能,其可以在符合时间窗内确定放射性核素分布的位置和强度,利用正电子湮灭产生的两个51lkeV的γ光子到达探测器的时间差,根据光速定位湮灭事件在响应线(Line of Response,LOR)上的可能位置,其可以提高PET扫描仪的成像质量、减少用药量、及缩短扫描时间。
传统技术中,利用TOF-PET系统重建的图像可能会受到温度、湿度、TOF-PET系统设计、TOF-PET系统中元件的时钟特性等因素的影响,导致TOF-PET图像产生伪影和定量误差,因此,需要对TOF-PET系统的TOF数据进行校正。传统技术中,一般在每日清晨临床扫描开始前,使用旋转固体线源或者其他固体的模体进行校正,获取当前系统状态下各响应线晶体对或探测器的关于γ光子的反应时间(直接受到γ光子能量影响),作为当日系统的TOF校正信息。
但是,上述进行反应时间参数的估计过程,其需要专业技术人员利用旋转固体线源进行操作,操作比较复杂,并且需要长时间扫描,对旋转装置的精度和稳定性要求较高。此外,目前尚无使用桶形固体源进行反应时间参数估计的技术,这局限了反应时间参数估计的临床适用性。
发明内容
鉴于上述现有技术的缺陷,本发明提出一种扫描装置的时间校正系统及其时间校正方法,当探测器探测到能量不同的γ光子时,通过该时间校正方法可以探测到探测器对γ光子的反应时间,从而可以对飞行时间进行修正,减少飞行时间的误差,提高重建的TOF-PET图像的精准性。该时间校正方法可同时用于计算由能量造成的时间测量偏差,或探测器固有的时间测量偏差。
为实现上述目的及其他目的,本发明提出一种扫描装置的时间校正方法,包括:
将模体设置在扫描视野的预设区域内,并获取所述模体与所述扫描视野中心的相对位置关系,其中所述模体位于所述扫描视野内的探测器环内,所述探测器环包括多个位置不同的探测器;
定义响应线,并计算所述响应线与所述模体的相交长度,其中将第一探测器和第二探测器之间的连线定义为一条所述响应线,所述响应线穿过所述模体;
采集符合事件,当所述模体发射方向相反的第一射线和第二射线,且所述第一射线和所述第二射线在预设的时间符合窗内被探测到时,则定义为所述符合事件,并分别记录所述第一射线和所述第二射线的能量,所述第一射线被所述第一探测器接收,所述第二射线被所述第二探测器接收;
根据所述第一探测器与所述模体的距离,以及所述第二探测器与所述模体的距离,对所述符合事件的飞行时间差进行修正,以获得飞行时间差的修正值;
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中派科技(深圳)有限责任公司;上海交通大学,未经中派科技(深圳)有限责任公司;上海交通大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110216948.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。