[发明专利]用于35NCD16合金磁粉探伤缺陷检测方法

说明书

本发明公开了一种用于35NCD16合金磁粉探伤缺陷检测方法，具体按照以下步骤实施：步骤1、在磁粉探伤下观测缺陷的形状和尺寸，并记录缺陷的位置；步骤2、切取正常试样与缺陷试样，进行显微组织分析，判断为冶金缺陷，进行步骤3；步骤3、对腐蚀态缺陷试样进行氧化现象分析，判断非氧化损耗，进行步骤4；步骤4、对腐蚀态缺陷试样进行显微组织成分分析。本方案通过磁粉探伤缺陷观察、高低倍组织观察、扫描电镜组织观察、能谱成分分析等方法确定35NCD16合金锻件缺陷的性质和原因。

技术领域

本发明属于金属质检技术领域，涉及一种用于35NCD16合金磁粉探伤缺陷检测方法。

背景技术

35NCD16是一种既可作调制钢使用、又可作超高强度钢使用的铬-镍- 钼合金结构钢。在调制处理状态，具有优良的强度及韧性、塑性的结合；经淬火及低温回火后，具有很高的强度。一般采用电弧炉+真空自耗重熔或电弧炉+电渣重熔工艺熔炼。已广泛用作航空重要轴类、螺栓及飞机起落架等零部件。

本方案通过磁粉探伤缺陷观察、高低倍组织观察、扫描电镜组织观察、能谱成分分析等方法确定35NCD16合金锻件缺陷的性质和原因。

发明内容

本发明的目的是提供，一种用于35NCD16合金磁粉探伤缺陷检测方法，解决了现有技术中存在的缺少系统规范检测分析35NCD16合金锻件缺陷方法的问题。

本发明所采用的技术方案是，一种用于35NCD16合金磁粉探伤缺陷检测方法，具体按照以下步骤实施：

一种用于35NCD16合金磁粉探伤缺陷检测方法，具体按照以下步骤实施：

步骤1、在磁粉探伤下观测缺陷的形状和尺寸，并记录缺陷的位置；

步骤2、切取正常试样与缺陷试样，进行显微组织分析，判断为冶金缺陷，进行步骤3；

步骤3、对腐蚀态缺陷试样进行氧化现象分析，判断非氧化损耗，进行步骤4；

步骤4、对腐蚀态缺陷试样进行显微组织成分分析。

本发明的特点还在于：

步骤2具体按照以下步骤实施：

步骤2.1、将正常试样与缺陷试样抛光，得到抛光态正常试样与抛光态缺陷试样；

步骤2.2、在100X光学显微镜下对抛光态缺陷试样进行观测；

步骤2.3、若缺陷附近有其它异常缺陷，则缺陷为该异常缺陷导致；

步骤2.4、若缺陷附近无其它异常缺陷，且缺陷附近非金属夹杂物的含超过标准要求，则缺陷为非金属夹杂含量超标引起的开裂；

步骤2.5、若缺陷附近无其它异常缺陷，且缺陷附近非金属夹杂物的含量和分布与抛光态正常试样基本均匀一致，则缺陷为冶金缺陷，进行氧化现象分析。

步骤3具体按照以下步骤实施：

步骤3.1、将正常试样和缺陷试样经磨平抛光，用腐蚀剂腐蚀得到腐蚀态缺陷试样；

步骤3.2、在100X光学显微镜下进行观测，若缺陷附近发生氧化现象，残留氧化膜，则缺陷为氧化膜氧化膜卷入液体金属内部时形成，若无氧化现象，则进行步骤4。

步骤3.1的腐蚀剂是4％硝酸酒精溶液。

步骤4具体按照以下步骤实施：

步骤4.1、对抛光态缺陷试样进行能谱分析，能谱分析缺陷四周及缺陷内部化合物的金属成分；

步骤4.2、分析缺陷四周及缺陷内部化合物的金属成分的主要元素组成，与熔炼所加熔渣成分相比较；