[发明专利]一种基于视觉特征聚合的光场质量评价方法有效

专利信息
申请号: 202110218843.9 申请日: 2021-02-26
公开(公告)号: CN112967242B 公开(公告)日: 2023-07-04
发明(设计)人: 刘畅;邱钧;邹卓成 申请(专利权)人: 北京信息科技大学
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06V10/764;G06V10/774
代理公司: 北京汇智胜知识产权代理事务所(普通合伙) 11346 代理人: 石辉;赵立军
地址: 100192 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 视觉 特征 聚合 质量 评价 方法
【权利要求书】:

1.一种基于视觉特征聚合的光场质量评价方法,其特征在于,包括:

步骤1,获取光场数据集,所述光场数据集包括多个四维光场的数据;

步骤2,提取每一个所述四维光场的视觉特征,得到每个所述四维光场的视觉聚合特征;其中,所述视觉特征为四维光场的中心子孔径图像的特征向量LFCV、宏像素图上的特征向量LFMLI、极平面图像上的灰度共生矩阵特征向量LFEPI、以及不同重聚焦面上重聚焦图的特征向量LFRI中的一种或一种以上的组合;LFCV用于描述光场在空间清晰度上质量变化情况,LFMLI用于描述光场在角度域一致性退化情况,LFEPI用于描述光场在空-角耦合域上结构变化情况,LFRI用于描述光场在投影域上的质量变化情况;

步骤3,根据所述视觉聚合特征,使用支持向量回归训练得到光场质量分数评测模型;

步骤4,通过光场质量分数评测模型评价光场的质量分数。

2.如权利要求1所述的基于视觉特征聚合的光场质量评价方法,其特征在于,LFCV描述为α,η,skew,kurt中的一种特征或一种以上特征的组合,α为控制正态分布形状的参数,为减均值归一化处理后的中心子孔径图像的像素值xk的AGGD左方差,为的像素值xk的AGGD右方差,η为刻画α,σl,σr三者的关系的参数,skew为的像素值xk的偏度值,kurt为的像素值xk的峰度值;其中,xk通过式(4)计算获得:

式中,Γ(·)为伽马函数,βl和βr均表示用于简化公式的中间参数;

3.如权利要求2所述的基于视觉特征聚合的光场质量评价方法,其特征在于,α表示为式(7),描述为式(8),描述为式(9),η描述为式(10),skew描述为式(11),kurt描述为式(12):

α=σlr     (7)

式中,xk表示的第k个像素值,n表示像素的总个数,表示的所有像素值的均值。

4.如权利要求1或2所述的基于视觉特征聚合的光场质量评价方法,其特征在于,的获得方法具体包括:

步骤21a,提取四维光场的中心子孔径图像,其表示为(u*,v*)表示中心子孔径图像的坐标,(s,t)表示中心子孔径图像中的像素坐标;

步骤22a,减均值归一化处理中心子孔径图像获得处理后的图像其表示为式(1):

其中,表示中每个坐标点窗口内像素的均值,其可以通过下式(2)计算得到,但不限于该计算方法;表示中每个坐标点窗口内像素的方差,其通过下式(3)计算得到

其中,表示中心坐标为(s,t)的中的窗口,k,l为窗口里像素的索引,ωk,l表示二维高斯窗口。

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