[发明专利]基于层理发育储层的约束滤波校正电阻率的方法有效
| 申请号： | 202110219342.2 | 申请日： | 2021-02-26 |
| 公开（公告）号： | CN112882112B | 公开（公告）日： | 2023-05-26 |
| 发明（设计）人： | 廖勇;曾芙蓉;李光泉;田海涛;陈四平;冯爱国;蒋恕;饶海涛;沈金才;何浩然;石文睿;张新华;季运景;曾保林;石元会;陈国辉;汪钰波;叶鑫 | 申请（专利权）人： | 中国石油化工集团有限公司;中石化石油工程技术服务有限公司;中石化江汉石油工程有限公司;中石化经纬有限公司;中石化经纬有限公司江汉测录井分公司 |
| 主分类号： | G01V3/18 | 分类号： | G01V3/18;G01V3/38 |
| 代理公司： | 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 | 代理人： | 涂洁 |
| 地址： | 100728 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 基于 层理 发育 约束 滤波 校正 电阻率 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种基于层理发育储层的约束滤波校正电阻率的方法，其特征在于，具体步骤如下：
1)获取待计算井层理发育储层段的测井资料
测井资料包括电阻率RT，以及经滤波后的电阻率RTF；
所述电阻率计量单位Ω·m；
2)计算滤波偏移系数RTFO
按模型RTFO＝|RT/RTF-1|；
所述滤波偏移系数RTFO无量纲；
3)得到校正后的电阻率RTT
按约束条件RTFO＞0.2,RTT＝RTF；RTFO≤0.2,RTT＝RT；输出校正后的电阻率RTT；
校正后的电阻率RTT计量单位Ω·m；
4)输出计算结果。
2.如权利要求1所述基于层理发育储层的约束滤波校正电阻率的方法，其特征在于，所述步骤1)的数据按0.1-0.15m采样取点。
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