[发明专利]目标检测方法、装置、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种目标检测方法，其特征在于，所述方法包括：

获取雷达回波数据；

确定所述雷达回波数据中雷达杂波的杂波类型；

至少基于所述杂波类型，确定对应的目标检测算法，其中，不同的杂波类型对应的检测算法不同；

基于所述目标检测算法对所述雷达回波数据进行目标检测。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定所述雷达回波数据中雷达杂波的杂波类型，包括：

确定所述雷达回波数据中的雷达杂波数据；

基于所述雷达杂波数据确定所述雷达杂波的杂波分类特征；

基于所述杂波分类特征，确定所述雷达杂波的杂波类型。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述雷达杂波数据确定所述雷达杂波的杂波分类特征，包括：

基于所述雷达杂波数据，确定杂波样本数据；

基于所述杂波样本数据确定样本特征函数，其中，所述样本特征函数包括：杂波分类特征；

基于所述样本特征函数确定杂波分类特征。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述杂波类型包括海杂波，所述至少基于所述杂波类型，确定对应的目标检测算法，包括：

基于所述海杂波，确定自适应匹配滤波算法。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述杂波类型包括地杂波，所述方法还包括：

确定所述雷达杂波的背景环境类型；

所述至少基于所述杂波类型，确定对应的目标检测算法，包括：

基于所述杂波类型和所述背景环境类型，确定对应的目标检测算法。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述确定所述雷达杂波的背景环境类型，包括：

确定所述雷达杂波的参考点；

基于所述参考点确定滑动窗口中第一参考窗与第二参考窗，其中，所述第一参考窗与所述第二参考窗位于所述参考点的两侧；

确定所述第一参考窗的杂波背景的第一均匀程度值，并确定第二参考窗的杂波背景的第二均匀程度值；

基于所述第一均匀程度值和所述第二均匀程度值，确定所述背景环境类型。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述背景环境类型包括：第一类型、第二类型和第三类型；

其中，在所述第一均匀程度值表征所述第一参考窗的杂波背景均匀，所述第二均匀程度值表征所述第二参考窗的杂波背景均匀，且所述第一均匀程度值与所述第二均匀程度值相等情况下为所述第一类型；

在所述第一均匀程度值表征第一参考窗的杂波背景均匀，所述第二均匀程度值表征所述第二参考窗的杂波背景均匀，且第一均匀程度值与所述第二均匀程度值不相等的情况下为所述第二类型；

在所述当所述第一均匀程度值表征第一参考窗的杂波背景不均匀和/或第二均匀程度值表征第二参考窗的杂波背景不均匀的情况下为所述第三类型。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，

当所述背景环境类型为所述第一类型时，所述目标检测算法为单元平均恒虚警检测算法；

当所述背景环境类型为所述第二类型时，所述目标检测算法为两侧单元平均选大恒虚警检测算法；

当所述背景环境类型为第三类型时，所述目标检测算法为选择恒虚警检测算法。

9.一种目标检测装置，其特征在于，包括：

获取模块，用于获取雷达回波数据；

第一确定模块，用于确定所述雷达回波数据中雷达杂波的杂波类型；

第二确定模块，用于至少基于所述杂波类型，确定对应的目标检测算法，其中，不同的杂波类型对应的检测算法不同；

检测模块，用于基于所述目标检测算法对所述雷达回波数据进行目标检测。

10.一种电子设备，其特征在于，包括存储器和处理器，所述存储器上存储有计算机程序，该计算机程序被所述处理器执行时，执行如权利要求1至8任意一项所述的目标检测方法。

11.一种存储介质，其特征在于，该存储介质存储的计算机程序，该存储介质在运行时，用来实现如权利要求1至8中任一项所述的目标检测方法。