[发明专利]检测系统及检测方法

权利要求书

1.一种检测系统，其特征在于，所述检测系统包括：

检测平台，所述检测平台包括多个待检测区域，所述待检测区域用于放置待检测的显示面板；

阵列测试器，所述阵列测试器用于检测所述显示面板是否异常；

用于检测所述阵列测试器异常的至少一个检测装置，每个检测装置包括：

第一支架，所述第一支架的长度与所述待检测区域的长度/宽度匹配；

光学检测单元，所述光学检测单元设置在所述第一支架上，所述光学检测单元可在所述第一支架上移动，所述光学检测单元用于检测阵列测试器是否存在异常；

清洁单元，所述清洁单元设置在所述第一支架上，所述清洁单元可在所述第一支架上移动，所述清洁单元用于清除所述阵列测试器上的杂质。

2.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，所述清洁单元包括：

支撑轴，所述支撑轴与所述第一支架连接，并可在所述第一支架上移动；

夹持模块，所述夹持模块设置在所述支撑轴上，用于夹持清洁模块；

清洁模块，所述清洁模块用于清除所述阵列测试器上的杂质。

3.根据权利要求2所述的检测系统，其特征在于，所述支撑轴包括滑动轴承，所述支撑轴通过所述滑动轴承在所述第一支架上滑动。

4.根据权利要求2所述的检测系统，其特征在于，所述夹持模块为多个，所述清洁模块为无尘布，多个所述夹持模块夹持所述无尘布，使得所述无尘布处于张紧状态，使得张紧状态的无尘布擦拭所述阵列测试器，以去除所述阵列测试器上的杂质。

5.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，所述至少一个检测装置为包括多个检测装置，所述多个检测装置设置在所述待检测区域的同一侧，且所述多个检测装置相对设置。

6.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，所述检测系统还包括：

传感装置，所述传感装置设在所述检测第一支架的两端，用于检测所述清洁单元在所述第一支架上的位置，并根据所述清洁单元在所述第一支架上的位置判断所述清洁单元是否使用完毕；

告警装置，所述告警装置用于在所述清洁单元使用完毕后生成告警以更换所述清洁单元中的清洁模块。

7.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，所述检测系统还包括：

第二支架，所述阵列测试器通过所述第二支架垂直设置在所述检测平台上方。

8.根据权利要求7所述的检测系统，其特征在于，在垂直于所述检测平台的方向上，所述第一支架设置在所述第二支架和所述检测平台之间。

9.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，所述光学检测单元的精度为20um至45um。

10.一种检测方法，其特征在于，用于如权利要求1-9任一项所述的检测系统，所述方法包括：

控制阵列测试器从静置区出发，测量当前待检测的显示面板的数量，确定需要测量的待检测的显示面板的范围，并检测所述显示面板是否异常；

当所述阵列测试器测量所述待检测的显示面板结束后，将所述阵列测试器回归至所述静置区；

利用检测装置中的清洁单元对所述阵列测试器进行清洁，以去除所述阵列测试器上的杂质；

利用检测装置中的光学检测单元检测所述阵列测试器表面是否出现异常；

若所述阵列测试器出现异常，则确定所述当前待检测面板出现了异常。