[发明专利]一种电容检测方法、装置及一种耳机

权利要求书

1.一种电容检测方法，其特征在于，所述方法用于电容检测装置，所述电容检测装置包括电容测量芯片、测量通道、参考通道、电容感应单元，所述测量通道的一端与所述电容测量芯片相连、另一端与所述电容感应单元相连，所述参考通道的一端与所述电容测量芯片相连、另一端浮空放置，所述参考通道的走线伴随所述测量通道的走线；

所述方法包括：

获取检测电容值和参考电容值，其中，所述检测电容值为通过测量通道检测到的电容值，所述参考电容值为通过参考通道检测到的电容值；

获取所述检测电容值和参考电容值的差值；

将所述差值作为修正后的检测电容值。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，将所述差值作为修正后的检测电容值之后，所述方法还包括：

将所述修正后的检测电容值与预设阈值进行比较；

根据比较结果判断是否检测到指定操作。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，将所述差值作为修正后的检测电容值之前，所述方法还包括：

对所述差值进行低通滤波。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述电容感应单元包括金属片。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述电容检测装置设置在耳机内，所述金属片设置在耳机壳内侧。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述耳机为真实无线立体声TWS耳机。

7.一种电容检测装置，其特征在于，所述电容检测装置包括电容测量芯片、测量通道、参考通道、电容感应单元；

所述测量通道的一端与所述电容测量芯片相连、另一端与所述电容感应单元相连；

所述参考通道的一端与所述电容测量芯片相连、另一端浮空放置，所述参考通道的走线伴随所述测量通道的走线；

所述电容测量芯片用于：

获取检测电容值和参考电容值，其中，所述检测电容值为通过测量通道检测到的电容值，所述参考电容值为通过参考通道检测到的电容值；获取所述检测电容值和参考电容值的差值；将所述差值作为修正后的检测电容值。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述电容测量芯片还用于：

将所述修正后的检测电容值与预设阈值进行比较，根据比较结果判断是否检测到指定操作。

9.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述装置还包括低通滤波器，所述电容测量芯片还用于：

在将所述差值作为修正后的检测电容值之前，通过所述低通滤波器对所述差值进行低通滤波。

10.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述电容感应单元包括金属片。

11.根据权利要求10所述的装置，其特征在于，所述电容检测装置设置在耳机内，所述金属片设置在耳机壳内侧。

12.根据权利要求11所述的装置，其特征在于，所述耳机为真实无线立体声TWS耳机。

13.一种耳机，其特征在于，所述耳机包含有如权利要求7～12任一项所述的电容检测装置。

14.根据权利要求13所述的耳机，其特征在于，所述耳机为真实无线立体声TWS耳机。