[发明专利]一种基于硅转接板的芯片倒装焊方法在审
申请号: | 202110228007.9 | 申请日: | 2021-03-02 |
公开(公告)号: | CN113035728A | 公开(公告)日: | 2021-06-25 |
发明(设计)人: | 王莎鸥;余春雷;何军键 | 申请(专利权)人: | 北京无线电测量研究所 |
主分类号: | H01L21/60 | 分类号: | H01L21/60 |
代理公司: | 北京正理专利代理有限公司 11257 | 代理人: | 陈君智 |
地址: | 100854*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 转接 芯片 倒装 方法 | ||
本发明的一个实施例公开了一种基于硅转接板的芯片倒装焊方法,在金凸点植球机和倒焊机中执行,该方法包括:利用所述金凸点植球机对芯片植金凸点;响应于用户的第一操作,设置所述芯片的安全高度,用于防止操作过程中所述倒焊机的吸头损坏;响应于用户的第二操作,设置所述芯片的搜索高度,用于完整识别所述芯片;响应于用户的第三操作,设置所述芯片的倒装焊参数;响应于用户的第四操作,所述芯片与硅转接板图像聚焦;响应于用户的第五操作,所述芯片与硅转接板图像重合;响应于用户的第六操作,拾取和倒装焊所述芯片。本申请所述技术方案使得芯片凸点与硅转接板精密连接,有效提升了倒装焊的可靠性,具有广泛的应用前景。
技术领域
本发明涉及芯片领域。更具体地,涉及一种基于硅转接板的芯片倒装焊方法。
背景技术
目前高密度微波子阵三维堆叠采用芯片-硅转接板倒装焊等形式,但是对于高频子阵,芯片凸点数量多,硅转接板面积大,经常出现芯片凸点与硅转接板连接不上,造成微波信号互联失效或者损耗大以及倒装焊可靠性低等问题。
发明内容
有鉴于此,本发明提出了一种基于硅转接板的芯片倒装焊方法,该方法在金凸点植球机和倒装焊机中执行,包括:
利用所述金凸点植球机对芯片植金凸点;
响应于用户的第一操作,设置所述芯片的安全高度,用于防止操作过程中所述倒焊机的吸头损坏;
响应于用户的第二操作,设置所述芯片的搜索高度,用于完整识别所述芯片;
响应于用户的第三操作,设置所述芯片的倒装焊参数;
响应于用户的第四操作,所述芯片与硅转接板图像聚焦;
响应于用户的第五操作,所述芯片与硅转接板图像重合;
响应于用户的第六操作,拾取和倒装焊所述芯片。
在一个具体实施例中,所述对芯片植金凸点包括:
所述芯片放置于金凸点植球机上,打开真空吸附;
响应于用户的第七操作,设置金凸点植球参数;
所述芯片与所述金凸点植球机进行对位,响应于用户的第八操作,在芯片引脚处植金凸点。
在一个具体实施例中,所述金凸点植球参数包括植球温度、植球功率、植球时间、第一压力、尾丝长度。
在一个具体实施例中,所述植球温度设置为100℃-150℃;所述植球功率设置为0.5W-1.5W;所述植球时间设置为90ms-100ms;所述第一压力设置为25g/金凸点-35g/金凸点;所述尾丝长度设置为300um-7 00um。
在一个具体实施例中,所述安全高度为所述倒装焊的吸头距离所述硅转接板的距离。
在一个具体实施例中,所述安全高度设置为5-10mm。
在一个具体实施例中,所述芯片搜索高度为硅转接板贴装完芯片上方0.05mm-0.1mm处。
在一个具体实施例中,所述倒装焊参数包括温度、超声功率、超声时间、第二压力、吸头下降速度、吸头下降到碰触芯片时的速度以及吸头夹取芯片后的速度。
在一个具体实施例中,所述温度设置为150℃-200℃;所述超声功率设置为4W-6W;所述超声时间设置为0.8s-1.2s;所述第二压力设置为30g/金凸点-50g/金凸点;所述吸嘴下降速度设置为1mm/s-5mm/s;所述吸头下降到碰触芯片时的速度设置为10um/s-50mm/s;所述吸头夹取芯片后的速度设置为5mm/s-10mm/s。
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H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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