[发明专利]一种XRF分析仪滤光片的切换装置、其切换方法和用途

说明书

本发明提供了一种XRF分析仪滤光片的切换装置、其切换方法和用途，所述的切换装置包括设置于XRF分析仪上的导轨，所述导轨内设置有内嵌式的滑槽；所述切换装置还包括嵌入设置于所述滑槽的滑动件，所述滑动件包括沿长度方向依次对接的齿条板和滤光板，所述齿条板上设置有齿槽，所述滤光板上沿长度方向开设有至少两个通道口，所述通道口上设置有滤光片；所述滑槽上设置有定位传感器，所述定位传感器用于定位所述滤光板上通道口的位置；所述齿条板传动连接有驱动件，所述驱动件与齿槽咬合带动滑动件在滑槽内滑动。通过滤光板移动，并通过定位传感器对通道口进行定位，实现自动控制更换滤光片。

技术领域

本发明属于检测技术领域，涉及XRF分析仪滤光片的切换装置，尤其涉及一种XRF分析仪滤光片的切换装置、其切换方法和用途。

背景技术

固体废弃物对土地、水源和空气均造成了污染，其中的重金属成分是判定污染严重程度的重要依据。为了对固体废弃物中的微量重金属的精确检测，通常采用ICP、XRF和LIBS等方法进行测定，其中XRF具有使用简便和易于实施等特点，成为检测固废重金属的重要手段。XRF一般指X射线荧光光谱分析，是利用初级X射线光子或其他微观离子激发待测物质中的原子，使之产生荧光(即次级X射线)而进行物质成分分析和化学态研究的方法。

根据XRF的测试原理，被测样品在受到X光激发后，样品产生激光光谱，不同种类、不同含量的元素产生的能谱在波长和能级上不同，通过接收器对能谱光子进行计数后，转换为计数值，从而得知各元素的含量。

在实际检测中，只需要测量一至两种元素的含量，其他非被测元素在能谱图中对主测元素形成了背景噪声，能谱图不易区分，影响主测元素的测量精度。为提高测量分析精度，可采用对非被测元素的入射X光进行降低能级，从而突出被测元素的激发效应。

CN202330316U公开一种准直器的自动更换结构，包括有准直器座、安装于准直器座上复数个具有不同滤光片的准直器和准直器更换装置，所述准直器更换装置包括有螺杆、导轨和步进电机，其中，上述准直器座可滑动式安装于上述导轨上，上述准直器沿导轨方向并排安装于准直器座上，上述螺杆一端连接于上述步进电机输出轴上，其另一端连接于上述准直器座上，步进电机带动螺杆转动时，准直器座沿导轨滑动。但是存在定位不准确，不能改善激发谱的重峰叠峰等。

现有滤光片的切换装置均存在结构复杂和自动性差的问题，因此，如何在保证滤光片的切换装置具有结构简单和自动性高的情况下，能够实现自动控制更换滤光片，成为目前迫切需要解决的问题。

发明内容

针对现有技术存在的不足，本发明的目的在于提供一种XRF分析仪滤光片的切换装置、其切换方法和用途，通过传动件带动滑动件在滑槽内滑动，从而实现不同通道口的使用，并通过定位传感器对通道口进行定位，避免定位不准的问题，具有结构简单和实施方便等特点。

为达此目的，本发明采用以下技术方案：

第一方面，本发明提供了一种XRF分析仪滤光片的切换装置，所述的切换装置包括设置于XRF分析仪上的导轨，所述导轨内设置有内嵌式的滑槽；所述切换装置还包括嵌入设置于所述滑槽的滑动件，所述滑动件包括沿长度方向依次对接的齿条板和滤光板，所述齿条板上设置有齿槽，所述滤光板上沿长度方向开设有至少两个通道口，所述通道口上设置有滤光片；所述滑槽上设置有定位传感器，所述定位传感器用于定位所述滤光板上通道口的位置；所述齿条板传动连接有驱动件，所述驱动件与齿槽咬合带动滑动件在滑槽内滑动。

本发明利用驱动件与齿条板上齿槽的咬合，并配合定位传感器进一步地提高通道口位置的准确度，从而实现自动控制滤光片的切换，提高XRF测量重金属元素含量的准确度，通过选择不同材质的滤光片，如铜、锌和镍等材质，可明显改善激发谱的重峰叠峰等现象，具有结构简单、操作方便和适用性强等特点。