[发明专利]覆晶薄膜组件和显示终端

说明书

本申请公开一种覆晶薄膜组件，所述覆晶薄膜组件包括：覆晶薄膜和控制芯片；其中，所述覆晶薄膜包括测试通道和控制电路，所述控制芯片具有预设测试点；所述控制电路通过所述测试通道与所述预设测试点连接。本申请还公开了一种显示终端。利用本申请的覆晶薄膜组件，在对覆晶薄膜组件中的覆晶薄膜输出的波形进行检测时，检测难度较小。

技术领域

本申请涉及显示领域，特别涉及一种覆晶薄膜组件和显示终端。

背景技术

随着显示技术的发展，窄边框技术在显示面板的领域得到飞速发展。通常，在显示面板生产完成之后，需要对覆晶薄膜(chip on film，COF)输出的波形进行检测，并获得检测结果。为了便于对覆晶薄膜的检测，需要在覆晶薄膜的输出通道中预置一定数量的测试点，以便于通过测试点对覆晶薄膜输出的波形进行检测。

参照图1，图1为现有的覆晶薄膜组件的结构示意图，通常，覆晶薄膜组件中，覆晶薄膜1具有输入通道11、控制电路12和输出通道13，输入通道均与控制芯片(可以是PCBA板)连接，控制电路通过输入通道接收控制芯片发送的数据信息，并对接收到的控制芯片发送的数据信息进行处理，获得处理后的数据信息，以及通过输出通道将处理后的数据信息发送至显示单元。

通常，在覆晶薄膜的安装过程中，可以通过弯折覆晶薄膜，以满足普通模组的机构要求，使得使得覆晶薄膜对普通模组机构不会产生干涉；但是，对于窄边框模组机构来说，现有的覆晶薄膜的长度较大，使得覆晶薄膜对窄边框模组机构产生干涉。

相关技术中，为了避免覆晶薄膜对窄边框模组机构产生干涉，提出了一种覆晶薄膜组件，在该覆晶薄膜组件中，覆晶薄膜长度较短，覆晶薄膜不会对窄边框模组机构产生干涉。

但是，采用现有的覆晶薄膜组件，对覆晶薄膜组件中覆晶薄膜输出的波形进行检测时，检测难度较大。

发明内容

本申请的主要目的是提供一种覆晶薄膜组件和显示终端，旨在解决现有技术中采用现有的覆晶薄膜组件，对覆晶薄膜组件中覆晶薄膜输出的波形进行检测时，检测难度较大的技术问题。

为实现上述目的，本申请提出一种覆晶薄膜组件，所述覆晶薄膜组件包括：覆晶薄膜和控制芯片；其中，

所述覆晶薄膜包括测试通道和控制电路，所述控制芯片具有预设测试点；

所述控制电路通过所述测试通道与所述预设测试点连接。

可选的，所述覆晶薄膜还包括输入通道；所述控制电路通过所述输入通道与所述控制芯片连接。

可选的，所述覆晶薄膜组件还包括：显示单元；所述覆晶薄膜还包括输出通道；其中，

所述控制电路通过所述输出通道与所述显示单元连接。

可选的，所述控制芯片具有预设输入点，所述显示单元具有预设接收点；

所述控制电路通过所述输入通道与所述预设输入点连接；

所述控制电路通过所述输出通道与所述预设接收点连接。

可选的，所述预设测试点包括多个，所述测试通道包括多条，一个预设测试点对应一条测试通道。

可选的，所述控制芯片包括基于表面贴装技术的印制电路板或基于双列直插封装技术的印制电路板。

可选的，所述测试通道的数量为2或4。

可选的，所述输入通道的数量为130～150。

可选的，所述输出通道的数量为1110～1150。

此外，为实现上述目的，本申请还提出了一种显示终端，包括如上述任一项所述的覆晶薄膜组件。