[发明专利]探针和检查单元

说明书

本发明提供探针和检查单元。探针(10)具有：弹性部(20)；第1接触部(30)，其具有一对脚部(32、33)和一对触点部(321、331)，该一对脚部(32、33)从弹性部(20)的一端沿着长度方向延伸并且能够向彼此靠近的方向挠曲，该一对触点部(321、331)配置在一对脚部(32、33)的前端，并且能够经由一对脚部(32、33)而被弹性部(20)向沿着长度方向的方向施力，并且能够与检查对象物的凹触点接触；第2接触部(40)，其配置在弹性部(20)的另一端，并且与第1接触部(30)电连接。在一对脚部(32、33)之间具有间隙(34)。

本申请是申请日为2017年03月14日、发明名称为“探针”、申请号为201780002575.9(PCT/JP2017/010192)的中国发明专利申请的分案申请。

技术领域

本发明涉及探针

背景技术

在照相机或液晶面板等电子部件模块中，一般来讲，在其制造工序中进行导通检查和动作特性检查等。使用探针将FPC接触电极或所安装的基板对基板连接器等的电极部与检查装置连接，由此进行这些检查，其中，该FPC接触电极用于与在电子部件模块中设置的主体基板连接。

作为这种探针，例如存在专利文献1中记载的探针。该探针由在长度方向上伸缩的弹性部以及在该弹性部的长度方向的两端分别设置的1个触点部构成。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2008-516398号公报

发明内容

发明要解决的问题

但是，在所述探针中，由于通过1个触点部使检查对象物和检查装置接触，因此，例如在检查对象物的端子是基板对基板连接器的凹侧的连接器等的凹触点的情况下，无法将探针的触点部和检查对象物的凹触点稳定地连接，有时无法确保接触可靠性。

因此，本发明的课题在于，提供能够与凹触点稳定地连接的探针。

用于解决问题的手段

本发明的一方式的探针具有：

弹性部，其沿着长度方向伸缩；

第1接触部，其具有一对脚部，并且具有一对触点部，该一对脚部从所述弹性部的一端沿着所述长度方向延伸，并且能够向彼此接近的方向挠曲，该一对触点部配置在所述一对脚部的前端，并且能够经由所述一对脚部而被所述弹性部向沿着所述长度方向的方向施力，并且能够与检查对象物的凹触点接触；以及

第2接触部，其被所述弹性部向与所述第1接触部的施力方向相反的方向施力，与所述第1接触部电连接，

在所述一对脚部之间具有间隙。

发明的效果

根据所述方式的探针，一对脚部向接近凹触点的方向挠曲，并且一对脚部的一对触点部与凹触点接触，因此能够与凹触点稳定地连接。

附图说明

图1是用于说明本发明的一个实施方式的探针的使用状态的立体图。

图2是沿着图1的II-II线的剖视图。

图3是本发明的一个实施方式的探针的立体图。

图4是图3的探针的平面图。

图5是示出图3的探针的与母连接器的凹触点接触之前的状态的剖视图。

图6是示出图3的探针的与母连接器的凹触点接触的状态的剖视图。

图7是示出图3的探针的第1例的平面图。

图8是示出图3的探针的第2例的平面图。