[发明专利]一种半导体晶圆切割用切割液自动调节装置在审
申请号: | 202110235798.8 | 申请日: | 2021-03-03 |
公开(公告)号: | CN113001792A | 公开(公告)日: | 2021-06-22 |
发明(设计)人: | 解安庆 | 申请(专利权)人: | 安徽晟伦节能科技有限公司 |
主分类号: | B28D5/00 | 分类号: | B28D5/00 |
代理公司: | 北京恒泰铭睿知识产权代理有限公司 11642 | 代理人: | 何平 |
地址: | 234000 安徽省宿州市经济开发区*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 半导体 切割 自动 调节 装置 | ||
1.一种半导体晶圆切割用切割液自动调节装置,包括切割平板(1)和双金属片(3),其特征在于:所述切割平板(1)底部固定连接有连接件(2),连接件(2)底部固定连接有双金属片(3),双金属片(3)外侧固定连接有电介质板(4),切割平板(1)内部开设有安装槽(5),安装槽(5)内部固定连接有正极板(6),安装槽(5)内部固定连接有负极板(7),切割平板(1)顶部固定连接有安装板(8),安装板(8)内部固定连接有储液腔(9),储液腔(9)底部固定连接有出液管道(10),出液管道(10)内部固定连接有固定板(11),固定板(11)内部开设有均匀分布的出液孔(12),出液管道(10)内部开设有活动槽(13),活动槽(13)内部活动连接有转动齿环(14),转动齿环(14)内部开设有均匀分布的出液挡板(15),活动槽(13)内部固定连接有电磁铁(16),活动槽(13)内部活动连接有活动齿条(17),活动齿条(17)内部固定连接有磁铁填充块(18),活动齿条(17)正面固定连接有复位弹簧(19)。
2.根据权利要求1所述的一种半导体晶圆切割用切割液自动调节装置,其特征在于:所述电介质板(4)的截面积大于正极板(6)和负极板(7)的截面积,负极板(7)电性连接至电磁铁(16)。
3.根据权利要求1所述的一种半导体晶圆切割用切割液自动调节装置,其特征在于:所述电磁铁(16)和磁铁填充块(18)对应面所带磁性相同,电磁铁(16)通电具有磁性。
4.根据权利要求1所述的一种半导体晶圆切割用切割液自动调节装置,其特征在于:所述出液孔(12)的个数与出液挡板(15)的个数相同,出液孔(12)的直径尺寸小于出液挡板(15)的直径尺寸。
5.根据权利要求1所述的一种半导体晶圆切割用切割液自动调节装置,其特征在于:所述活动齿条(17)底部固定连接有移动块,出液管道(10)内部开设有限位长槽,移动块外侧活动连接在限位长槽内部。
6.根据权利要求1所述的一种半导体晶圆切割用切割液自动调节装置,其特征在于:所述出液管道(10)底部固定连接有出液嘴,储液腔(9)顶部固定连接有加液管道,储液腔(9)内部填充有晶圆切割保护液。
7.根据权利要求1所述的一种半导体晶圆切割用切割液自动调节装置,其特征在于:所述活动齿条(17)内侧与转动齿环(14)外侧活动啮合,复位弹簧(19)正面固定连接在活动槽(13)内壁。
8.根据权利要求1所述的一种半导体晶圆切割用切割液自动调节装置,其特征在于:相邻的所述出液孔(12)之间的间距尺寸小于出液挡板(15)的直径尺寸。
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