[发明专利]测试方法以及测试系统

权利要求书

1.一种用于存算一体芯片的测试方法，包括：

根据待测对象，提供指令，其中，所述待测对象包括以下的任意一种：所述存算一体芯片包括的存储器阵列、所述存算一体芯片包括的具有用于存算一体操作的部分功能的存算一体计算单元、包括互联的多个存算一体芯片的存算一体芯片集；

获取所述指令并对所述指令进行解析，得到主控信号；

基于所述主控信号，控制所述待测对象中的存储器阵列存储矩阵数据，以及获取测试用的数字信号输入数据，并控制实现基于模拟信号的运算过程，得到测试用的运算结果；

将所述运算结果与目标结果进行比较，得到测试结果；

其中，响应于所述待测对象为所述存算一体芯片包括的存储器阵列或具有用于存算一体操作的部分功能的存算一体计算单元，控制实现基于模拟信号的运算过程，包括：通过自适应地选择执行与所述测试对象互补的替代过程，以实现所述基于模拟信号的运算过程；

响应于所述待测对象为所述存算一体芯片集，控制实现基于所述模拟信号的运算过程，包括：所述存算一体芯片集的输入端包括的多个互联的存算一体芯片输入所述数字信号输入数据，通过所述存算一体芯片集中互联的中间层的存算一体芯片执行所述基于模拟信号的运算过程，使得所述存算一体芯片集的输出端包括的多个互联的存算一体芯片的至少之一输出对应的数字信号。

2.如权利要求1所述的测试方法，其中，所述基于模拟信号的运算包括：基于模拟信号进行矩阵向量乘法运算，所述数字信号输入数据为向量。

3.如权利要求1所述的测试方法，其中，所述基于模拟信号的运算过程，包括：

电信号配置，包括：基于所述数字信号输入数据配置待输入的输入电信号；

信号选通，包括：根据存储的所述矩阵数据选择所述待测对象中的存储器阵列的多个通道，向所述存储器阵列的多个通道分别提供对应的输入电信号，其中，每个所述通道以行或列的方式布置；

信号测量，包括：对所述存储器阵列输出的输出电信号进行测量，将所述输出电信号转换为对应的数字信号。

4.如权利要求3所述的测试方法，其中，通过自适应地选择执行与所述测试对象互补的替代过程，以实现所述基于模拟信号的运算过程，包括：

响应于所述待测对象为所述存算一体芯片包括的存储器阵列，通过自适应性地进行所述电信号配置以及所述信号选通，以向所述存储器阵列提供对应的输入电信号，并对所述存算一体芯片包括的存储器阵列输出的输出电信号进行测量，将所述输出电信号转换为对应的数字信号；

响应于所述待测对象为所述存算一体芯片包括的具有用于存算一体操作的信号选通功能的存算一体计算单元，通过自适应性地进行所述电信号配置，以向所述存算一体计算单元包括的存储器阵列提供对应的输入电信号，并对所述存算一体计算单元包括的存储器阵列输出的输出电信号进行测量，将所述输出电信号转换为对应的数字信号。

5.如权利要求3～4任一所述的测试方法，其中，

所述输入电信号包括：地电位信号、悬空信号以及不同大小的数模转换电压信号，所述输出电信号包括电流信号，

所述不同大小的数模转换电压信号基于至少一个数模转换电压源模块进行预先配置，以实现所述基于模拟信号的运算过程。

6.如权利要求3～4任一所述的测试方法，其中，

所述输入电信号包括电流信号，所述输出电信号包括电压信号，

所述电流信号基于电流源模块进行预先配置，以实现所述基于模拟信号的运算过程。

7.如权利要求1～4任一所述的测试方法，其中，

所述存储器阵列包括阻变存储器阵列。

8.如权利要求7所述的测试方法，还包括：利用所述阻变存储器阵列实现神经网络结构的权重参数矩阵，

其中，所述矩阵数据为所述权重参数矩阵，所述阻变存储器阵列中的多个阻变存储器的电导值分别对应所述权重参数矩阵的多个权重参数。