[发明专利]一种谱域光学相干层析测量系统及测量方法

权利要求书

1.一种谱域光学相干层析测量系统，其特征在于，包括：通过光纤依次连接的宽带光源、时空波包生成单元、光学相干层析测量光路和采集处理单元，以及与所述采集处理单元电性连接的控制单元，其中：

所述宽带光源发出的光经过所述时空波包生成单元形成预设时空分布的波包，所述预设时空分布的波包经所述相干层析测量光路传输至所述采集处理单元，所述采集处理单元获取入射光束的信号并分析处理再传输至所述控制单元，所述控制单元用于根据入射的光束信息进行图像显示；

且经过所述时空波包生成单元形成宽带光束在折射率不同介质中传播速度不变且不受色散影响。

2.如权利要求1所述的谱域光学相干层析测量系统，其特征在于，所述时空波包生成单元包括依次连接的第一光栅、第一柱透镜、相位调制板、第二柱透镜及第二光栅，所述第一光栅分离宽带光为空间连续分布的不同波长的光，所述第一柱透镜将空间连续分布的不同波长的光转换为平行光，所述相位调制板将所述第一柱透镜入射的平行光进行相位调制，所述第二柱透镜将所述调制后的光谱聚焦在所述第二光栅上，所述第二光栅重新产生宽带光束。

3.如权利要求2所述的谱域光学相干层析测量系统，其特征在于，所述第一柱透镜及所述第二柱透镜均为衍射光栅。

4.如权利要求2所述的谱域光学相干层析测量系统，其特征在于，所述第一柱透镜及所述第二柱透镜均为表面曲率渐变的柱透镜。

5.如权利要求2所述的谱域光学相干层析测量系统，其特征在于，所述相位调制板为透射式或反射式相位调制结构。

6.如权利要求1所述的谱域光学相干层析测量系统，其特征在于，所述控制单元还电性连接所述宽带光源、所述时空波包生成单元及光学相干层析测量光路。

7.一种如权利要求1-6任一项所述的谱域光学相干层析测量系统的测量方法，其特征在于，包括下述步骤：

所述宽带光源发出的光经过所述时空波包生成单元产生预设时空分布的波包，所述预设时空分布的波包在折射率不同介质中传播速度不变且不受色散影响；

所述预设时空分布的波包经所述相干层析测量光路传输至采集处理单元，所述采集处理单元获取入射光束的信号并分析处理再传输至所述控制单元；

所述控制单元控制整个谱域光学相干层析测量系统、信息的存储和图像的显示。

8.如权利要求7所述的谱域光学相干层析测量系统的测量方法，其特征在于，

所述时空波包生成单元包括依次连接的第一光栅、第一柱透镜、相位调制板、第二柱透镜及第二光栅，所述第一光栅分离宽带光为空间连续分布的不同波长的光，所述第一柱透镜将空间连续分布的不同波长的光转换为平行光，所述相位调制板将所述第一柱透镜入射的平行光进行相位调制，所述第二柱透镜将所述调制后的光谱聚焦在所述第二光栅上，所述第二光栅重新产生宽带光束。

9.如权利要求8所述的谱域光学相干层析测量系统的测量方法，其特征在于，所述第一柱透镜及所述第二柱透镜均为衍射光栅。

10.如权利要求8所述的谱域光学相干层析测量系统的测量方法，其特征在于，所述第一柱透镜及所述第二柱透镜均为表面曲率渐变的柱透镜，所述相位调制板为透射式或反射式相位调制结构。