[发明专利]一种机器出厂诊断方法、系统、设备和存储介质

说明书

本发明提出一种机器出厂诊断方法、系统、设备和存储介质，该方法包括以下步骤：获取待诊断设备机型和待诊断设备配置，并均存入数据库作为数据集；基于待诊断设备的配置参数，获取历史预设时间段的出厂记录作为诊断条件的训练集，并根据待诊断设备的配置参数确定诊断条件；采用最近邻算法计算出在诊断条件下待诊断设备数据集距离训练集的最近邻数据，得到机器出厂诊断结果。基于一种机器出厂诊断方法，本发明还提出了一种机器出厂诊断系统，设备和存储介质。本发明提出以最近邻算法的诊断方法，根据历史诊断记录，确定诊断条件，将欧氏距离最小的多个不同配置参数确定为诊断结果，使服务器出厂诊断更加具有针对性和精确性，提高产品出厂合格率。

技术领域

本发明属于机器诊断技术领域，特别涉及一种机器出厂诊断方法、系统、设备和存储介质。

背景技术

当前，所有的电子设备，如服务器、电视、电脑、电能表、手机等在出厂前都要对产品进行出厂前的诊断，确保出厂产品的质量。但是每种产品需要测试什么，怎么能保证测试更加全面而具有针对性，尤其是需要用时比较长的压测，具体应该测试多长时间，对哪些部件哪些性能进行压测。

一般的诊断方案都是根据团队已有方案，在诊断工程师对项目做分析后修改，或者根据客户的需求出诊断方案。以服务器的出厂诊断为例，现有方案大概结构如下：

[RUNIN]

Item#0＝RUNIN_CMD_1

Item#2＝RUNIN_SETUP_ENABLE

Item#10＝RUNIN_HARD_PCYCLE_1

Item#10＝RUNIN_HARD_PCYCLE_2

Item#10＝RUNIN_HARD_PCYCLE_3

Item#10＝RUNIN_SOFT_PCYCLE_1

Item#10＝RUNIN_SOFT_PCYCLE_2

Item#10＝RUNIN_SOFT_PCYCLE_3

Item#1＝RUNIN_DIAGS_1

Item#1＝RUNIN_PERF_TEST

Item#20＝RUNIN_IMTIPT_TEST_1

Item#21＝RUNIN_IMTIPT_TEST_2

Item#25＝RUNIN_IMTIDT_TEST_1

Item#31＝RUNIN_GPU_TEST

Item#32＝RUNIN_SETUP_RECOVER

Item#38＝RUNIN_CMD_2

Item#40＝RUNIN_CMD_3

Item#41＝RUNIN_LAST_CHECK

Item#42＝RUNIN_DIAGS_2

Item#42＝RUNIN_SETUP_CHECK

每一项item的给是工程师根据已有方案并且对项目进行分析得来。这种方式不仅不够精确还需要工程师投入大量的时间和精力。另一方面比如压力测试。具体需要持续多长时间，循环多少次才比较合适。现有的方案给出有时候是看客户需求，有时候是借鉴已有的项目。很显然，这种诊断方案过于传统，不仅需要工程师投入大量的时间和精力，并且科学性不够高。如何使诊断更加具有针对性和精确性，从而提高产品出厂合格率是个亟待解决的技术问题。

发明内容