[发明专利]一种TMR芯片的制备方法在审

专利信息
申请号: 202110242889.4 申请日: 2021-03-05
公开(公告)号: CN113061855A 公开(公告)日: 2021-07-02
发明(设计)人: 刘明;关蒙萌;胡忠强;朱红艳;朱家训 申请(专利权)人: 珠海多创科技有限公司
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35;C23C14/02;C23C14/58
代理公司: 广东朗乾律师事务所 44291 代理人: 杨焕军
地址: 519000 广东省珠海市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 tmr 芯片 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种TMR芯片的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:

晶圆清洗,采用有机溶剂和去离子水交替清洗晶圆,然后用惰性气体吹干晶圆,再将晶圆烘干;

离子清洗,对晶圆采用惰性气体进行离子清洗;

负偏压低气压磁控溅射,将晶圆放入溅射设备腔体中,使用偏压电源在晶圆和设备腔体之间施加-200~-2000V的负偏压,在低于0.3pa的气压条件下进行磁控溅射;

退火,退火温度为250~400℃。

2.如权利要求1所述的TMR芯片的制备方法,其特征在于:晶圆清洗的步骤如下:

用丙酮超声清洗10~30分钟;

用去离子水超声波清洗10~30分钟;

用异丙醇超声波清洗10~30分钟;

用去离子水超声波清洗10~30分钟;

用无水乙醇超声波清洗10~30分钟;

用惰性气体吹干;

烘干,烘烤温度为150℃,烘烤时间不小于2小时;

其中异丙醇清洗和无水乙醇清洗的顺序可调换。

3.如权利要求1或2所述的TMR芯片的制备方法,其特征在于:在对晶圆用有机溶剂和去离子水清洗之前,将晶圆放在N,N-二甲基甲酰胺中浸泡10~30分钟。

4.如权利要求1所述的TMR芯片的制备方法,其特征在于:离子清洗的步骤为:在真空状态下通入0.5~2pa压力的惰性气体,使用50~1000W的RF射频功率对晶圆清洗5~30min。

5.如权利要求1或4所述的TMR芯片的制备方法,其特征在于:在5.0E-3pa以下的真空状态下进行离子清洗。

6.如权利要求1或4所述的TMR芯片的制备方法,其特征在于:离子清洗通入的惰性气体为氩气。

7.如权利要求1所述的TMR芯片的制备方法,其特征在于:在低于5.0E-3pa的真空状态下进行退火处理,退火时间为1~2小时。

8.如权利要求1或7所述的TMR芯片的制备方法,其特征在于:退火时,升温速率不大于5℃/min。

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