[发明专利]一种3C产品外壳检测筛分机构

说明书

本发明涉及一种3C产品外壳检测筛分机构，包括机架，所述的机架上设置输送槽，所述的输送槽中部开设有检测凹口，所述的检测凹口内设置有与外壳配合的平整检测装置，所述的输送槽的尾部开设有能够使外壳穿过的筛分口，并设置有与筛分口配合的筛分挡料块，所述的筛分口的下方配合有筛分装置；本发明的目的是提供一种3C产品外壳检测筛分机构，在输送槽内设置平整检测装置，并通过筛分口配合筛分装置能够将平整检测装置检测后的产品按照检测结构进行筛分出料，极大的提高了整体加工的效率。

原案申请号：2019105579691

原案申请日：2019年6月26日。

技术领域

本发明涉及3C产品加工领域，尤其涉及一种3C产品外壳检测筛分机构。

背景技术

所谓3C产品，就是计算机(Computer)、通信(Communication)和消费类电子产品(ConsumerElectronics)三者结合，也称信息家电，手机是一种常见的3C产品，其外壳大多为金属材料，通过铸造成型而成，对于初步成型的产品，需要对其进行一定的检测，其中外壳外侧的平整度检测是一项重要的检测，通过平整度检测将其分为合格产品，可以通过打磨成合格产品和不合格产品，因此需要对检测后的产品进行筛分处理，现有的筛分大多都是采用人工进行，无法与平整检测装置实现一体化加工，进而效率不高。

发明内容

本发明的目的是提供一种3C产品外壳检测筛分机构，在输送槽内设置平整检测装置，并通过筛分口配合筛分装置能够将平整检测装置检测后的产品按照检测结构进行筛分出料，极大的提高了整体加工的效率。

为了实现以上目的，本发明采用的技术方案为：一种3C产品外壳检测筛分机构，包括机架，所述的机架上设置输送槽，所述的输送槽中部开设有检测凹口，所述的检测凹口内设置有与外壳配合的平整检测装置，所述的输送槽的尾部开设有能够使外壳穿过的筛分口，并设置有与筛分口配合的筛分挡料块，所述的筛分口的下方配合有筛分装置。

优选的，所述的筛分装置包括设置在机架上且位于筛分口下方的筛分筒，所述的筛分筒内设置有三层筛分出料块，且每层筛分出料块上均开设有与筛分口位置及大小均对应的筛分落料口，所述的筛分筒内设置有竖直走向的筛分接料气缸，所述的筛分接料气缸上连接有可穿入到筛分口的筛分接料块，所述的筛分筒的侧部设置有出料推动座，所述的出料推动座上设置有三个出料推动气缸，每个出料推动气缸连接有可穿入到筛分筒内的出料推动块，且三个出料推动块分别与三层筛分接料块的高度一致。

优选的，所述的平整检测装置包括设置在检测凹口内的检测安装块，所述的检测安装块配合有可反应升降幅度的检测升降装置，所述的检测安装块的上部阵列开设有检测孔，所述的检测孔内通过检测弹簧连接有检测柱，所述的检测柱的上端为弧形，且弧形最高点设置有第一接触感应器，所述的输送槽上部设置有上框架，所述的上框架上设置有检测拦截气缸和检测压料气缸，所述的检测拦截气缸下方连接有使外壳与平整检测装置位置对接的检测拦截块，所述的检测压料气缸连接有与外壳配合的检测压料块。

优选的，所述的检测升降装置包括设置在检测凹口内且与检测安装块连接的检测升降气缸，所述的检测安装块的下方设置有磁栅尺，所述的检测凹口内设置有与磁栅尺配合的磁栅读头，所述的磁栅尺不少于两组，且关于检测安装块的中心对称设置。

优选的，所述的检测压料块的下方设置有与外壳侧板配合的第二接触感应器，且第二接触感应器的数量和位置与外壳的侧板一一对应。

优选的，所述的检测压料块远离检测拦截块的一端还设置有竖直板，竖直板内开设在有上大下小阶梯状的高度检测活动孔，所述的高度检测活动孔内配合有高度检测活动柱，高度检测活动柱的上端为与高度检测活动孔上部大口径的部位配合的块体，所述的高度检测活动柱的下部设置有高度检测活动块，所述的高度检测活动块的下方设置有第三接触感应器。