[发明专利]一种晶振探头用晶振盒

说明书

本发明公开了晶振盒装置领域的一种晶振探头用晶振盒，包括装置本体，装置本体中包括底盒和上盖，底盒和上盖之间通过软性橡胶带活动连接固定，底盒中包括盒体、检测台和散热盒，盒体为顶端无盖的空心腔体结构，检测台和散热盒均设置于盒体的内部，散热盒设置于盒体的中部，检测台设置于散热盒的外侧，检测台中包括顶台、晶振片和测试槽，测试槽开设于顶台的顶端内侧，晶振片设置于测试槽中，测试槽的底端开设有凹槽，散热盒内设置有冷却装置，冷却装置为冷气发生器，散热盒的外侧表面开设有散热孔，盒体上开设有环槽，可以将盒体内部控制在指定温度，多检测位可以为不同多组检测件进行检测，而使用者可以通过底板进行切换，体积较小，方便携带。

技术领域

本发明涉及晶振盒装置领域，具体是一种晶振探头用晶振盒。

背景技术

有一些电子设备需要频率高度稳定的交流信号，而LC振荡器稳定性较差，频率容易漂移(即产生的交流信号频率容易变化)。在振荡器中采用一个特殊的元件——石英晶体，可以产生高度稳定的信号，这种采用石英晶体的振荡器称为晶体振荡器。

而现有的LC振荡器稳定性较差，频率容易漂移(即产生的交流信号频率容易变化)，目前许多科研单位为了能准确的对基片的镀膜时间进行控制，便采用了晶振探头对靶材蒸发量进行检测，操作者通过对晶振探头所传输的晶片振荡频率的分析处理来对镀膜时间进行控制。因此，本领域技术人员提供了一种晶振探头用晶振盒，以解决上述背景技术中提出的问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种晶振探头用晶振盒，使用者在操作时，首先可以将检测台放置在固定槽内，而多组检测台可以进行多组晶振探头的检测工作，之后可以将晶振探头放置在检测台的测试槽内，由于测试槽内设置有的凹槽结构，方便使用者进行拆装和固定，而其顶部设置的晶振片与晶振探头进行接触，检测人员通过对晶振片的振荡频率进行分析处理后便能得到晶振探头的基片镀膜的厚度，进而完成对晶振探头进行测试，在使用时，需要对加热至指定温度，使用者可以通过上盖上的加热丝，可以对盒体内部的温度进行控制，并通过散热盒中的冷却装置对盒体内进行温度控制，将盒体内维持在指定温度使用者可以通过操作孔对检测台上的晶振探头进行检测，使用者可以通过旋转底板进行切换检测台，完成多组操作，以解决上述背景技术中提出的目前许多科研单位为了能准确的对基片的镀膜时间进行控制，便采用了晶振探头对靶材蒸发量进行检测，操作者通过对晶振探头所传输的晶片振荡频率的分析处理来对镀膜时间进行控制的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

一种晶振探头用晶振盒，包括装置本体，所述装置本体中包括底盒和上盖，所述底盒和上盖之间通过软性橡胶带活动连接固定，所述底盒中包括盒体、检测台和散热盒，所述盒体为顶端无盖的空心腔体结构，所述检测台和散热盒均设置于盒体的内部，所述散热盒设置于盒体的中部，所述检测台设置于散热盒的外侧，所述检测台中包括顶台、晶振片和测试槽，所述测试槽开设于顶台的顶端内侧，所述晶振片设置于测试槽中，所述测试槽的底端开设有凹槽，所述散热盒内设置有冷却装置，所述冷却装置为冷气发生器，所述散热盒的外侧表面开设有散热孔，所述盒体上开设有环槽，所述环槽内设置有底板，所述底板的中部设置有旋转柱，所述旋转柱的外侧设置有固定槽，所述固定槽开设于底板的顶端表面，所述固定槽的外侧设置有旋转槽，所述上盖中包括盖板和加热丝，所述盖板设置于上盖的底端中部，所述盖板内设置有加热丝，所述盖板的一侧设置有操作孔，所述上盖与盖板之间设置有可视窗。

作为本发明进一步的方案：所述检测台和固定槽的个数均大于7组，所述检测台的底部设置于固定槽内，多组所述检测台和固定槽可以进行组合固定，而先将所述检测台放置在固定槽内，通过顶部的所述操作孔进行检测，对多组所述检测台上的晶振探头进行蒸发量检测。

作为本发明再进一步的方案：所述散热盒的中部开设有旋转孔结构，且旋转孔结构与所述旋转柱的尺寸相适配，所述旋转柱与旋转孔结构相固定，而在使用者的使用过程中，可以旋转所述底板带动旋转柱进行旋转，而其顶端所述散热盒可以通过外侧的散热孔可以对在加热之后进行降温，将内部温度保持在22摄氏度，提高操作的精确性，保证正品率。