[发明专利]一种固结磨料抛光垫及易潮解KDP晶体干式抛光方法有效

专利信息
申请号: 202110246315.4 申请日: 2021-03-05
公开(公告)号: CN112959233B 公开(公告)日: 2022-08-16
发明(设计)人: 李军;熊光辉;李凯旋;朱永伟;左敦稳;吴成;于宁斌 申请(专利权)人: 南京航空航天大学;南京航空航天大学无锡研究院
主分类号: B24D13/00 分类号: B24D13/00;B24D3/00;B24B29/00
代理公司: 江苏圣典律师事务所 32237 代理人: 徐晓鹭
地址: 210016 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 固结 磨料 抛光 潮解 kdp 晶体 方法
【权利要求书】:

1.一种固结磨料抛光垫,其特征在于:所述固结磨料抛光垫中包含磨粒、反应物、催化剂、固化剂和结合剂,所述的抛光垫用于晶体的干式抛光;所述磨粒为二氧化硅、氧化铈、氧化铝、碳化硅中的一种或一种以上的组合;

所述反应物与KDP晶体在抛光过程中发生固相化学反应,所述反应物为氢氧化钾、碳酸钾、碳酸氢钾、草酸钾中的一种或一种以上组合;

所述催化剂促进固相化学反应,所述催化剂为脂肪酰胺磺基琥珀酸单酯、N-月桂酰基肌氨酸钠、脂肪醇聚氧乙烯醚硫酸钠中的一种或一种以上组合;

抛光垫中所述反应物的质量分数为5%~40%,所述催化剂的质量分数为0.1%~10%,所述磨粒的质量分数为10%~60%,其余成分为固化剂和结合剂。

2.根据权利要求1所述的固结磨料抛光垫,其特征在于,所述的磨粒粒径为0.5~5μm。

3.一种易潮解KDP晶体干式抛光方法,其特征在于:采用固结磨料抛光垫抛光KDP晶体,所述固结磨料抛光垫中包含磨粒、反应物、催化剂、固化剂和结合剂,反应物与KDP晶体发生固相化学反应生成过渡层,过渡层在磨粒的机械作用下被去除,得到光滑表面;

所述固结磨料抛光垫中的反应物与KDP晶体在抛光过程中发生固相化学反应,所述反应物为氢氧化钾、碳酸钾、碳酸氢钾、草酸钾中的一种或一种以上组合。

4.根据权利要求3所述的易潮解KDP晶体干式抛光方法,其特征在于,所述固结磨料抛光垫中的磨粒为二氧化硅、氧化铈、氧化铝、碳化硅中的一种或一种以上的组合,粒径在0.5~5μm之间。

5.根据权利要求3所述的易潮解KDP晶体干式抛光方法,其特征在于,

所述固结磨料抛光垫中的催化剂促进固相化学反应,所述催化剂为脂肪酰胺磺基琥珀酸单酯、N-月桂酰基肌氨酸钠、脂肪醇聚氧乙烯醚硫酸钠中的一种或一种以上组合。

6.根据权利要求3所述的易潮解KDP晶体干式抛光方法,其特征在于:所述反应物的质量分数为5%~40%,所述催化剂的质量分数为0.1%~10%,磨粒质量分数为10%~60%,其余成分为固化剂和结合剂。

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