[发明专利]防抖控制方法、电子设备及存储介质有效
申请号: | 202110247046.3 | 申请日: | 2021-03-05 |
公开(公告)号: | CN113038006B | 公开(公告)日: | 2023-04-07 |
发明(设计)人: | 张晓燕 | 申请(专利权)人: | 昆山丘钛光电科技有限公司 |
主分类号: | H04N23/68 | 分类号: | H04N23/68;H04N17/00 |
代理公司: | 上海波拓知识产权代理有限公司 31264 | 代理人: | 边晓红 |
地址: | 215300 江苏省苏州*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 控制 方法 电子设备 存储 介质 | ||
本申请属于摄像头测试技术领域,涉及一种防抖控制方法、电子设备及计算机可读存储介质,其中,防抖控制方法,包括:根据预设的防抖补偿值进行防抖测试得到初始测试结果,其中,预设的防抖补偿值为预设防抖补偿范围内的值;在初始测试结果不满足防抖条件时,基于预设的防抖补偿值进行调整,并进行防抖测试;当存在测试结果符合设定要求时,根据测试结果获取目标防抖补偿值。因此,本申请能够实现快速、精确地找到各种OIS摄像头模组的最佳偏移量。
技术领域
本申请涉及摄像头测试技术领域,特别是涉及一种防抖控制方法、电子设备及计算机可读存储介质。
背景技术
一般情况下,当摄像头拍照时,人手不可避免的会产生抖动,而手的抖动则会导致摄像头接收到的光信号变化,进而使得所拍图片出现画质下降的情况,所以为了解决摄像头拍照时摄像头有抖动造成的画质下降,需要在摄像头模组上增加光学防抖功能。现有技术的光学防抖功能主要通过调整镜头来补偿摄像头模组抖动造成的图像偏移,工作时需要确定X轴、Y轴方向的GyroGain位置(或称陀螺仪补偿位置、偏移位置、偏移量等等,以下使用偏移量进行描述)后,以控制镜头做X轴、Y轴方向移动,因此,在针对光学防抖的摄像头模组进行防抖测试时,会存在搜索最佳偏移量(例如搜索X轴的最佳偏移量和/或Y轴的最佳偏移量)的操作,从而搜索到的最佳偏移量使模组防抖效果达到最佳。
目前,传统的搜索偏移量的方式一般是,根据一个范围内搜索到最佳位置(例如可搜索的范围为0~1,根据厂内模组的状态,最佳偏移量的分布可能只存在0.2~0.8之间,那么我们可以将改区间细化来进行搜寻)。这种搜索方式时间上会比较漫长;此外,还有一种传统的搜索偏移量的方式为拟合方式,其在0.2~0.8区间等间距取5个点,然后根据这5个点拟合曲线,找出最佳点。这种方式对于常规光学防抖摄像头模组(简称OIS摄像头模组)可以达到比较好的效果,但是对于大角度OIS摄像头模组,对最佳偏移量的要求精确度很高,则可能导致得到的最佳偏移量与实际的最佳偏移量偏差较大,影响大角度OIS摄像头模组的防抖效果。因此,如何快速、精确地找到各种OIS摄像头模组的最佳偏移量是本领域技术人员亟需解决的技术问题。
针对以上问题,本领域技术人员一直在寻求解决方法。
前面的叙述在于提供一般的背景信息,并不一定构成现有技术。
发明内容
本申请要解决的技术问题在于,针对上述现有技术的缺陷,提供了防抖控制方法、电子设备及计算机可读存储介质,以实现快速、精确地找到各种OIS摄像头模组的最佳偏移量。
本申请第一方面提供了一种防抖控制方法,包括:根据预设的防抖补偿值进行防抖测试得到初始测试结果,其中,预设的防抖补偿值为预设防抖补偿范围内的值;在初始测试结果不满足防抖条件时,基于预设的防抖补偿值进行调整,并进行防抖测试;当存在测试结果符合设定要求时,根据测试结果获取目标防抖补偿值。
可选地,在初始测试结果不满足防抖条件时,基于预设的防抖补偿值进行调整,并进行防抖测试的步骤中,包括:在初始测试结果不满足防抖条件时,基于防抖补偿值与测试结果的关系呈上开口抛物线的特性及预设的防抖补偿值进行调整,并进行防抖测试。
可选地,在初始测试结果不满足防抖条件时,基于防抖补偿值与测试结果的关系呈上开口抛物线的特性及预设的防抖补偿值进行调整,并进行防抖测试的步骤,包括:基于防抖补偿值与测试结果的关系呈上开口抛物线的特性及预设的防抖补偿值进行第一调整和/或第二调整,并进行防抖测试,其中,第一调整与第二调整相反。
可选地,基于防抖补偿值与测试结果的关系呈上开口抛物线的特性及预设的防抖补偿值进行第一调整和/或第二调整,并进行防抖测试的步骤中,包括:基于上开口抛物线的特性和预设的防抖补偿值进行第一调整,以获取第一防抖补偿值;根据第一防抖补偿值进行防抖测试,以获取第一测试结果;判断第一测试结果是否符合设定要求;若是,则执行根据测试结果获取目标防抖补偿值的步骤,以将第一防抖补偿值作为目标防抖补偿值;若否,则根据第一测试结果和初始测试结果进行判断控制。
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