[发明专利]智能中控定位精度测试方法、装置、电子设备和存储介质在审

专利信息
申请号: 202110252181.7 申请日: 2021-03-08
公开(公告)号: CN112985460A 公开(公告)日: 2021-06-18
发明(设计)人: 沈顺明;钱建安;江涛;张瑛;李超超;白恒培 申请(专利权)人: 武汉小安科技有限公司
主分类号: G01C25/00 分类号: G01C25/00
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 程琛
地址: 430000 湖北省武汉市东湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 智能 定位 精度 测试 方法 装置 电子设备 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种智能中控定位精度测试方法,其特征在于,包括:

在车辆行驶过程中,基于待测智能中控和参考定位装置分别采集车辆的待测轨迹数据和参考轨迹数据;其中,所述待测智能中控与所述参考定位装置安装于所述车辆的同一位置;

将所述待测轨迹数据和所述参考轨迹数据进行对比,确定所述待测轨迹数据和所述参考轨迹数据的轨迹偏差;

基于所述轨迹偏差,确定所述待测智能中控的定位精度评估结果。

2.根据权利要求1所述的智能中控定位精度测试方法,其特征在于,所述将所述待测轨迹数据和所述参考轨迹数据进行对比,确定所述待测轨迹数据和所述参考轨迹数据的轨迹偏差,具体包括:

基于所述待测轨迹数据中的任一待测定位点,从所述参考轨迹数据中选取与所述任一待测定位点对应的对比定位点;

对比所述待测轨迹数据中各个待测定位点及其对应的对比定位点的位置信息,确定所述待测轨迹数据和所述参考轨迹数据的轨迹偏差。

3.根据权利要求2所述的智能中控定位精度测试方法,其特征在于,所述基于所述待测轨迹数据中的任一待测定位点,从所述参考轨迹数据中选取与所述任一待测定位点对应的对比定位点,具体包括:

确定所述参考轨迹数据中定位时间在所述任一待测定位点的中控定位时间之前且与所述中控定位时间最接近的参考定位点,以及定位时间在所述中控定位时间之后且与所述中控定位时间最接近的参考定位点,作为与所述任一待测定位点对应的对比定位点。

4.根据权利要求3所述的智能中控定位精度测试方法,其特征在于,所述对比所述待测轨迹数据中各个待测定位点及其对应的对比定位点的位置信息,确定所述待测轨迹数据和所述参考轨迹数据的轨迹偏差,具体包括:

基于任一待测定位点对应的两个对比定位点的位置信息,确定所述两个对比定位点所在直线的参考直线表达式;

基于各个待测定位点的位置信息及其对应的参考直线表达式,计算各个待测定位点与其对应的两个对比定位点所在直线间的距离,得到所述轨迹偏差。

5.根据权利要求2所述的智能中控定位精度测试方法,其特征在于,所述基于所述待测轨迹数据中的任一待测定位点,从所述参考轨迹数据中选取与所述任一待测定位点对应的对比定位点,具体包括:

基于所述待测智能中控的定位频率和所述参考定位装置的定位频率之间的比值,以及所述任一待测定位点在所述待测轨迹数据中的序号,从所述参考轨迹数据中筛选出候选对比定位点;

确定定位时间与所述中控定位时间最接近的候选对比定位点,作为所述任一待测定位点对应的对比定位点。

6.根据权利要求1至5任一项所述的智能中控定位精度测试方法,其特征在于,所述定位精度评估结果包括所述待测智能中控定位误差最大的位置和/或综合定位误差;

所述基于所述轨迹偏差,确定所述待测智能中控的定位精度评估结果,具体包括:

基于所述轨迹偏差中的最大偏差值,确定所述待测智能中控定位误差最大的位置;

和/或,基于所述轨迹偏差的平均偏差值,确定所述待测智能中控的综合定位误差。

7.一种智能中控定位精度测试装置,其特征在于,包括:

轨迹数据采集单元,用于在车辆行驶过程中,基于待测智能中控和参考定位装置分别采集车辆的待测轨迹数据和参考轨迹数据;其中,所述待测智能中控与所述参考定位装置安装于所述车辆的同一位置;

轨迹偏差计算单元,用于将所述待测轨迹数据和所述参考轨迹数据进行对比,确定所述待测轨迹数据和所述参考轨迹数据的轨迹偏差;

定位精度评估单元,用于基于所述轨迹偏差,确定所述待测智能中控的定位精度评估结果。

8.根据权利要求7所述的智能中控定位精度测试装置,其特征在于,所述轨迹偏差计算单元,具体用于:

基于所述待测轨迹数据中的任一待测定位点,从所述参考轨迹数据中选取与所述任一待测定位点对应的对比定位点;

对比所述待测轨迹数据中各个待测定位点及其对应的对比定位点的位置信息,确定所述待测轨迹数据和所述参考轨迹数据的轨迹偏差。

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