[发明专利]一种GIS内金属微粒的清除方法、装置、系统及存储介质

说明书

本发明公开一种GIS内金属微粒的清除方法，通过对GIS进行监测，从而在监测到局部放电时，对放电位置进行定位并将其作为金属微粒的位置；通过所述金属微粒的位置和与GIS相通的收集器的位置求得所述金属微粒移动的最优路径；通过根据所述最优路径控制设置于GIS内不同位置的电磁铁的电流，以将所述金属微粒移动至所述收集器。本发明还公开了一种GIS内金属微粒的清除装置、系统及存储介质。本发明实施例能在金属微粒产生后利用电磁铁进行自动清除，并且通过控制电磁铁的磁性精准地清除金属微粒，实现金属微粒的彻底清除。

技术领域

本发明涉及微粒清除技术领域，尤其涉及一种GIS内金属微粒的清除方法、装置、系统及存储介质。

背景技术

GIS设备具有占地面积小、安全可靠性高的优点，是目前电力系统中大量使用的关键设备，然而由于制作和安装工艺问题，会出现绝缘缺陷，形成极不均匀电场进而造成局部放电，局部放电产生的金属微粒会使GIS绝缘故障率大大提升，影响着设备的可靠运行，因此有必要及时清除局部放电产生的金属微粒。但是，目前针对此类金属微粒的清除大多采用对拆卸后的设备进行人工擦拭，并不能在金属微粒产生后自动清除，并且人工擦拭不能精准地清除金属微粒，导致清除不彻底。

发明内容

本发明实施例的目的是提供一种GIS内金属微粒的清除方法、装置、系统及存储介质，能够对GIS局部放电位置进行定位，以确定金属微粒位置，利用电磁铁自动精准清除金属微粒。

为实现上述目的，本发明实施例提供了一种GIS内金属微粒的清除方法，包括：

对GIS进行监测；

当监测到局部放电时，对放电位置进行定位，判定所述放电位置为金属微粒的位置；

根据所述金属微粒的位置和收集器的位置，求解所述金属微粒移动的最优路径；其中，所述收集器与所述GIS相通；

根据所述最优路径控制不同位置的电磁铁的电流，将所述金属微粒移动至所述收集器；其中，至少包括两个所述电磁铁，所述电磁铁设置于所述GIS内。

作为上述方案的改进，所述对GIS进行监测，具体为：

利用至少一个光电倍增管对所述GIS进行监测；其中，所述光电倍增管设置于所述GIS内。

作为上述方案的改进，所述当监测到局部放电时，对放电位置进行定位，判定所述放电位置为金属微粒的位置，具体为：

当监测到信号时，利用至少两个摄像头分别对所述GIS的腔体壁进行拍摄；其中，所述摄像头设置于所述GIS内；

根据拍摄得到的图像确定放电位置。

作为上述方案的改进，所述方法还包括：

利用至少两个所述摄像头对所述金属微粒的运动状况进行实时监测；

当所述金属微粒偏离所述最优路径时，根据所述金属微粒的运动状况和所述收集器的位置，控制不同位置的电磁铁的电流，将所述金属微粒移动至所述收集器。

作为上述方案的改进，所述收集器为可拆卸收集器。

作为上述方案的改进，所述根据拍摄得到的图像确定放电位置，具体为：

利用三维重建软件，根据拍摄得到的图像进行三维重建，确定所述放电位置。

为实现上述目的，本发明实施例还提供了一种GIS内金属微粒的清除装置，包括：

GIS监测模块，用于对GIS进行监测；

定位模块，用于当监测到局部放电时，对放电位置进行定位，判定所述放电位置为金属微粒的位置；