[发明专利]一种金属材料检测用晶粒度测试装置

说明书

本发明公开了一种金属材料检测用晶粒度测试装置，包括支撑柱，支撑柱的顶端转动连接有金相显微镜，金相显微镜的底端套接有摄像头，支撑柱的内部电性连接有图像传感器，支撑柱的底端固定连接有转杆，支撑柱的外侧套接有副箱，副箱的顶部固定连接有套筒，套筒的顶部贯穿有金属软管，金属软管的顶端固定连接有喷嘴，套筒的内部安装有转动马达，转动马达的输出端套接有扇叶，本发明解决了现有的晶粒度测试装置在使用过程中使用者需一边转动结构调节载物台与物镜间的距离一边使用目镜观察使得调节距离的过程费时导致装置测试晶粒度的效率低、装置死角处的灰尘不同意被清理出使得装置清理不够干净影响装置后续使用的问题。

技术领域

本发明涉及晶粒度测试装置技术领域，具体为一种金属材料检测用晶粒度测试装置。

背景技术

晶粒度是表示晶粒大小的尺度，常用的表示方法有单位体积的晶粒数目，单位面积内的晶粒数目或晶粒的平均线长度，金属结晶时，每个晶粒都是由一个晶核长大而成的，因此晶粒的大小取决于晶核的数目和晶粒长大速度的相对大小，晶粒度数值的大小会影响金属冷却后所获得的产物的组织和性能。但现有的晶粒度测试装置在使用过程中，使用者需一边转动结构调节载物台与物镜间的距离一边使用目镜观察，使得调节距离的过程费时，导致装置测试晶粒度的效率低；另外还存在装置在对装置进行清灰时，位于装置死角处的灰尘不易被清理出，使得装置清理得不够干净，影响装置后续使用的问题，为此我们提出一种金属材料检测用晶粒度测试装置。

发明内容

本发明提供了一种金属材料检测用晶粒度测试装置，调整方便、测试准确度高。

为实现以上目的，本发明通过以下技术方案予以实现：一种金属材料检测用晶粒度测试装置，包括支撑柱，所述支撑柱的顶端转动连接有金相显微镜，所述金相显微镜的底端套接有摄像头，所述支撑柱的内部电性连接有图像传感器，所述支撑柱的底端固定连接有转杆，所述支撑柱的外侧套接有副箱，所述副箱的顶部固定连接有套筒，所述套筒的顶部贯穿有金属软管，所述金属软管的顶端固定连接有喷嘴，所述套筒的内部安装有转动马达，所述转动马达的输出端套接有扇叶，所述扇叶的正上方粘接有滤网，所述副箱的侧面固定连接有主箱，所述主箱的顶部固定连接有平台，所述平台的顶部滑动连接有透明玻璃板.所述透明玻璃板的内部电性连接有灯管，所述主箱的内部安装有电动推杆，所述电动推杆的侧面电性连接有信号传感器，所述主箱的侧面电性连接有信号线，所述主箱的底部固定连接有底座。

进一步优选的，所述金属软管的伸缩长度范围在十厘米以内，所述金属软管的外表面涂有防腐涂料，所述金属软管贯穿于套筒的顶部。

进一步优选的，所述套筒的内部镂空，所述套筒的底部电性连接有蓄电池，所述套筒与副箱固定连接。

进一步优选的，所述透明玻璃板位于平台顶部的正中位置，所述透明玻璃板为可拆卸式结构，所述透明玻璃板的厚度与平台的厚度相同。

进一步优选的，所述电动推杆的顶端固定连接有卡块，所述电动推杆的底部与主箱内侧的底部齐平，所述电动推杆安装于主箱的内部。

进一步优选的，所述灯管的数量为三根，三根所述灯管的间距相等，三根所述灯管均与透明玻璃板电性连接。