[发明专利]基于电阻式传感器阵列的自适应检测方法及系统有效
申请号: | 202110256481.2 | 申请日: | 2021-03-09 |
公开(公告)号: | CN113030573B | 公开(公告)日: | 2022-04-19 |
发明(设计)人: | 梁峻阁 | 申请(专利权)人: | 江南大学 |
主分类号: | G01R27/02 | 分类号: | G01R27/02 |
代理公司: | 苏州市中南伟业知识产权代理事务所(普通合伙) 32257 | 代理人: | 李柏柏 |
地址: | 214122 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 电阻 传感器 阵列 自适应 检测 方法 系统 | ||
1.一种基于电阻式传感器阵列的自适应检测方法,其特征在于,包括:
获取待测传感器阵列的规模,根据待测传感器阵列的规模自适应分配最佳扫描速度;
使用所述最佳扫描速度对待测传感器阵列进行扫描检测,包括:
控制多路复用器选通待测阵元,同时对未选通的阵元进行电势屏蔽,将基准检测电压输入至所述待测阵元进行检测,其中多路复用器部署有隔离电路,用于在所述待测传感器阵列的输入端和输出端隔绝多路复用器的动态导通电阻;
在多路复用器的输出检测端采集输出检测电压,计算所述待测阵元的阻值,其中所述输出检测端部署有带温度补偿的基准采样电路;
其中,获取待测传感器阵列的规模,根据待测传感器阵列的规模自适应分配最佳扫描速度包括:
对所述待测传感器阵列按照行数和列数进行顺序扫描;
当检测到高阻逻辑时,获取所述待测传感器阵列的规模(m*n),其中m表示待测传感器阵列的行数,n表示待测传感器阵列的列数;
根据所述待测传感器阵列的规模(m*n)分配与其自适应的最佳扫描速度。
2.根据权利要求1所述的基于电阻式传感器阵列的自适应检测方法,其特征在于:在确定最佳扫描速度后,对所述待测传感器阵列进行预扫描,自动检测所述待测传感器阵列的阵元阻值是否在预设阻值区间内,若检测结果为是,则执行检测操作;若检测结果为否,则返回阵元阻值在预设阻值区间之外的阵元坐标。
3.根据权利要求1所述的基于电阻式传感器阵列的自适应检测方法,其特征在于:控制多路复用器选通待测阵元,同时对未选通的阵元进行电势屏蔽包括:
所述多路复用器部署有电势屏蔽电路;
产生选通信号,选通信号控制多路复用器选通待测阵元,同时选通信号控制所述电势屏蔽电路将选通回路的电压反馈至未选通回路上,对所述未选通回路上的阵元进行电势屏蔽。
4.根据权利要求3所述的基于电阻式传感器阵列的自适应检测方法,其特征在于:所述电势屏蔽电路包括2选1复用器和译码器,选通信号通过所述译码器作用到所述2选1复用器上,用于将选通回路的电压反馈至未选通回路上,对所述未选通回路上的阵元进行电势屏蔽,消除待测传感器阵列中的阵元间串扰。
5.根据权利要求1所述的基于电阻式传感器阵列的自适应检测方法,其特征在于:所述基准采样电路包括基准采样单元和温度补偿单元,所述温度补偿单元对所述基准采样单元进行实时温度补偿。
6.根据权利要求1所述的基于电阻式传感器阵列的自适应检测方法,其特征在于:在多路复用器的输出检测端采集输出检测电压,计算所述待测阵元的阻值包括:
待测阵元阻值的计算公式为:
式中,Rmn为待测阵元阻值,Vin为基准检测电压,Vout为输出检测电压,RJ为基准采样电阻的阻值,rT为温度补偿电阻的阻值。
7.根据权利要求1所述的基于电阻式传感器阵列的自适应检测方法,其特征在于:所述待测传感器阵列的输出端部署有校准单元,所述校准单元连接基准采样电阻,通过调节所述校准单元使得基准采样电阻的阻值与待测阵元的阻值相匹配。
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